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maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪
面议极紫外、X射线等产品现货供应
面议MiniPIX SPRINTER Timepix2 光子计数X射线探测器
面议X射线相衬、暗场成像套件
面议激光驱动高亮EUV光源
面议hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
面议极紫外、软X射线内真空CCD相机-LOTTE-s光谱系列
面议X射线微焦源-成像
面议AdvaPIX QUAD Timepix3 光子计数X射线探测器
面议X射线分辨率测试卡/评估模体
面议WidePIX 2(1)X5 Medipix3 光子计数X射线探测器
面议proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪
面议公司介绍:
NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发与销售经验。在范围内,通过与众多来自同步辐射科学,阿秒科学,高强度物理学等领域的科学研究者开展紧密合作,积累了大量*的设计与制造技术,其产品在业内享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有着高分辨率,高聚光效率等特点,适合被各种辐射光设施使用。另外,分辨率测试卡被当作业界的标准。不只是学术研究,在X射线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片,XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助,对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV,EUV, X线领域给予客户在研发上的帮助。
产品介绍:
具有高透明度和长使用寿命的优质 XUV滤光片
优点:
恩梯梯技术公司的用于各种XUV实验的极紫外(XUV或EUV)滤光片具有高透明度、高稳定性和长使用寿命。此优质滤光片无针孔、无支撑网和支撑膜,并覆有抗氧化涂层。
恩梯梯技术公司提供的优质无支撑XUV 滤光片在金属薄膜两侧覆有抗氧化涂层,实现了高透明度和长使用寿命。
滤光片尺寸:6毫米×10毫米
滤光片厚度:100纳米
支架尺寸:直径 28毫米
滤光片列表:
Zr(用于波长10至20纳米)
Al(用于波长20至50纳米)
Sn、SiN(用于波长3至5纳米)
In、SiN(用于波长3至5纳米)
尺寸、厚度等可根据需求定制。
在本公司的演示中,恩梯梯技术公司的抗氧化Al XUV 滤光片制造后3个月时的透明度比传统Al滤光片高2至5倍。因抗氧化涂层的作用,该XUV 滤光片能长时间稳定使用。
恩梯梯技术公司的抗氧化Al XUV滤光片 |
恩梯梯技术公司的XUV、EUV滤光片因为无支撑网和支撑材料,所以具有出色的高透明度和透射光束质量。因能长时间稳定使用,该滤光片已被用于许多需要长时间辐射的实验环境。