Autoconcept GD90-RF射频辉光放电质谱仪AutoconceptGD90-RF 气体质谱/在线质谱
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maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪
面议极紫外、X射线等产品现货供应
面议三维13.5nmEUV/SXR复制镜
面议MiniPIX SPRINTER Timepix2 光子计数X射线探测器
面议X射线相衬、暗场成像套件
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面议hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
面议极紫外、软X射线内真空CCD相机-LOTTE-s光谱系列
面议X射线微焦源-成像
面议AdvaPIX QUAD Timepix3 光子计数X射线探测器
面议X射线分辨率测试卡/评估模体
面议WidePIX 2(1)X5 Medipix3 光子计数X射线探测器
面议公司介绍:
英国质谱仪器有限公司(MSI)是一家小公司,专门从事高性能磁性行业双聚焦质谱仪的设计,旨在满足有机和无机分析市场的需求。 它继承了Kratos Analytical的技术,该技术是1957年引入商业质谱仪的。从那时起,对高精度,高分辨率仪器的需求呈指数增长。 在MSI,我们通过投资于新的开发和应用,正在将这项技术提升到新的水平方面取得了巨大的进步。
产品介绍:
辉光放电质谱仪主要由三部分构成:辉光放电离子源、质量分析器、检测器。另外还包括一些辅助系统,如真空系统、离子光学系统、电学系统和数据采集控制系统等。
而Autoconcept GD90-RF具有灵活的双离子源系统:直流源(DC)和射频源(RF)。GD90-RF离子源包含直流源和射频源,切换简单方便,可以直接分析不同尺寸的块状、针状及粉末样品。高电离阈值材料离子源室,有效避免电离时带来的污染。
DC直流源系统 | RF射频源系统 |
DC直流源可直接分析导体样品, 或者通过混合法或第二阴极法分析半导体和非导体样品。 | RF射频源可直接分析导体、半导体或绝缘体的固体样品 · 低功率RF模式--深度剖析应用 · 中功率RF模式--易碎样品应用 · 高功率RF模式--痕量分析 |
Cu63 D.C Mode 峰高 : · 1.35 x10-9 A · 1.35V · 8.4 x 109 cps | Cu63 RF Mode 峰高 · 2.4 X 10-9 A · 2.5V · 1.5 x 1010 cps |
AutoConcept GD90-RF的主要特性:
对块状、针状或粉末状的导体或非导体样品进行直接分析;
高分辨率,特别是对于有干扰离子存在的测定而言十分重要;
广泛的元素涵盖范围,软件中包括70个元素相关的干扰离子数据;
由于原子化和离子化过程发生在不同区域,带来可忽略的基体效应;
低至亚ppb级的检测限;
具有深度剖析能力;
极少的样品制备过程。