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maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪
面议极紫外、X射线等产品现货供应
面议MiniPIX SPRINTER Timepix2 光子计数X射线探测器
面议X射线相衬、暗场成像套件
面议激光驱动高亮EUV光源
面议hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
面议极紫外、软X射线内真空CCD相机-LOTTE-s光谱系列
面议X射线微焦源-成像
面议AdvaPIX QUAD Timepix3 光子计数X射线探测器
面议X射线分辨率测试卡/评估模体
面议WidePIX 2(1)X5 Medipix3 光子计数X射线探测器
面议proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪
面议公司介绍:
NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发与销售经验。在范围内,通过与众多来自同步辐射科学,阿秒科学,高强度物理学等领域的科学研究者开展紧密合作,积累了大量*的设计与制造技术,其产品在业内享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有着高分辨率,高聚光效率等特点,适合被各种辐射光设施使用。另外,分辨率测试卡被当作业界的标准。不只是学术研究,在X射线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片,XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助,对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV,EUV, X线领域给予客户在研发上的帮助。
产品介绍:
在XUV和软X射线范围内, 多层膜反射镜的Brewster角大约为45度, 因此在同步辐射领域, 多层膜常被当做偏振镜。NTT- AT可根据你的材料光学带隙提供反射和透射两种多层膜偏振镜。
UV聚焦透镜
用于UV和VUV光电子能谱应用的聚焦透镜 。 所 有 标 准 和 定 制 的 透 镜 都 能 实 现< 5 μ m 角 分 辨 光 电 子 能 谱 实 验( ARPES)。
基本参数:
AUL-250-190 | UL-320-177 | |
透镜材料 | Fused Silica | CaF2 |
透镜镀膜 | AR | AR |
波长 | 190 – 210 nm | 177 nm |
入射光束尺寸 | Ø1.7 mm | Ø1.7 mm |
工作距离 | 250 mm @ 190 nm 310 mm @ 210 nm | 320 mm @ 177 nm |
长度 | ~145 mm | ~250 mm |
透过率 | 91% @ 190 nm | 93% @ 177 nm |
聚焦能力 | < 5 μm | ~5 um |