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maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪
面议极紫外、X射线等产品现货供应
面议三维13.5nmEUV/SXR复制镜
面议MiniPIX SPRINTER Timepix2 光子计数X射线探测器
面议X射线相衬、暗场成像套件
面议激光驱动高亮EUV光源
面议hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
面议极紫外、软X射线内真空CCD相机-LOTTE-s光谱系列
面议X射线微焦源-成像
面议AdvaPIX QUAD Timepix3 光子计数X射线探测器
面议X射线分辨率测试卡/评估模体
面议WidePIX 2(1)X5 Medipix3 光子计数X射线探测器
面议公司介绍:
美国XOS是一家、提供专用X射线整机分析仪器的公司。公司可以提供元素分析解决方案,以提高石油,消费品,环境测评行业的公共安全和客户效率。 产品涵盖针对不用应用行业的X射线荧光分析设备,同时包含高亮的微焦点X射线源、多毛细管X透镜和双曲弯晶聚焦镜等的X射线部件。
产品介绍:
行业的性能
—*的通量密度:
• 采用聚焦透镜器件:50W 提供通量密度大于 12KW 的旋转阳极源
• 采用准直透镜器件:50W 提供接近密封管性能的通量密度
• 聚焦 X 光束的更强空间分辨率
• 焦斑大小仅为5µm @ Rh Ka (20.162 kev)
—设计灵活,节省空间
• 紧凑结构便于集成
• 透镜器件或光圈可互换
• 集成风冷系统
• 集成快门模块符合 PTB 规定
• 无油包装
• 提供安全互锁
• 包含 PC 控制的软件接口
—易维修性
• 现场对齐透镜器件,可轻松更换试管
-微粒分析
-薄膜和镀层测厚
-高分辨率元素Mapping
-残余应力分析
-劳厄衍射
-粉末XRD
-粉末XRD
-织构& 应变测量
-波长色散光谱仪