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一、电子元件冷热冲击试验机简介
该系列产品适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低温快速交变环境下，确定组件、设备和其他产品经受环境温度迅速变化的能力.
二、电子元件冷热冲击试验机技术参数：
型号 | BS-40H | BS-80H | BS-150H | BS-200H | BS-252H |
内箱尺寸W*H*D(mm) | 400*350*300 | 500*400*400 | 600*500*500 | 600*600*550 | 700*600*600 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 1100*1930*1450 | 1200*2000*1550 | 1300*1230*1670 | 1300*2500*1700 | 1400*2630*1750 |
重量(KG) | 500 | 700 | 900 | 1100 | 1300 |
温度范围 |
（A-45℃ B-55℃ C-65℃ 高温区：+60℃-150℃ 低温区：-10℃--65℃ ） | ||||
升温时间（蓄热区） | RT-200℃约35min | ||||
降温时间（蓄冷区） | RT—70℃约55min | ||||
温度回复/切换时间 | ≤5min / ≤10sec以内 | ||||
温度精度/分布精度 | ±0.5℃ ±2.5% ℃ | ||||
冷却方式 | 风、水冷式/双断压缩机 | ||||
电源 | AC380V+±10%V 50HZ/60HZ | ||||
三、冷热冲击试验箱执行与满足标准：
1、GB/T2423.1-2001低温试验方法；
2、GB/T2423.2-2001；
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；
4. 国GJB150.3-86；
5. 国GJB150.4-86；
6. 国GJB150.5-86；
7、GJB150.5-86温度冲击试验；
8、GJB360.7-87温度冲击试验；
9、GJB367.2-87 405温度冲击试验；
10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；
11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；
12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；
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