| 一、仪器的主要用途和特点 |
| | XPF-300透反射偏光显微镜是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校常用的专业实验仪器。用于不透明物体或半透明物体，可以同时采用透射光和反射光观察.
随着光学技术的不断进步，偏光显微镜的应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工，半导体工业以及药品检验等等，都广泛地使用偏光显微镜。XPF-300透反射偏光显微镜就是非常适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。 |
| 二、仪器的主要技术指标 | | | 名称 | 规格 | 总放大倍数： | 40X---630X | 无应力消色差物镜 | 4X/0.1 | 10X/0.25 | 25X/0.40 | 40X/0.65 弹簧 | 63X/0.85 弹簧 | 目镜 | 10X 十字目镜 | 10X 分划目镜 | 试片 | 石膏 1λ 试片 | 云母 1/4λ 试片 | 石英楔子试片 | 测微尺 | 0.01mm | 滤色片 | 蓝色 | 带座目镜网络尺 | | 移动尺 | 移动范围 30mm×40mm | 镜筒 | 三目观察 | | 同轴照明系统 | 显微镜垂直照明系统，系统系数1倍，可适配与各型号的普通(160毫米机械筒长，斜筒式) 显微镜 。可作为反射光照明系统下观察不透明物体表面细微结构. | | 反射照明系统 | | | | |
| 三、系统的扩展性 |
| | XPF-300C型偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、的光电转换技术、优异的计算机成像技术结合在一起而开发研制成功的一项科技产品。可以在计算机上很方便地观察偏光图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。 |
