为什么要基于过饱和度控制煮糖呢？

高质量糖的生产依赖于晶体生长，而过饱和正是促进晶体生长的原动力。结晶速度是多个参数的函数。过饱和度的定义为：母液的实际糖浓度与相同温度下的饱和糖浓度的比值。

过饱和度有一个最佳范围，在这个范围内，糖晶体均匀而广泛地生长，达到所需的晶体粒度。在此范围之外，晶体将停止生长，甚至可能自然熔化或开始形成新晶体，产生需要回溶再加工的粉晶和黏晶。这会带来重大影响，因为这种情形会导致时间和能源的浪费、增加生产成本和水的消耗，并减少糖的有效产量。

为了制定能够解决这些难题的基于过饱和度的控制解决方案，工厂为煮糖罐配备了维萨拉 K-PATENTS® SeedMaster SM-3 系统，该系统能够为过饱和度计算提供实时数据。SeedMaster 专为糖结晶应用场景而设计。该系统由在线折光仪和多参数监测设备组成，可提供糖结晶所需的参数，并能够支持全自动控制解决方案的实施。