一、简介

美国ASI J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统与等离子体质谱连用，组成LA-ICP-MS系统，对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。

二、J200 LA飞秒激光剥蚀进样系统技术优势

• Q开关，短脉冲Nd:YAG激光器，拥有各种不同波长、不同能量的飞秒或纳秒激光器，可根据您的实际应用需求进行选购；
• 创新的模块化系统为独立的LA，LIBS，或LA–LIBS复合系统的配置设计；
• 系统传感器，确保激光剥蚀一致性：
  • 高度自动调整技术
  • 激光能量稳定快门

• 双摄像机，一个于高倍成像，另一个用于样品表面的广角观察；
• 应用光谱Flex样品室带有可互换镶嵌模块，以优化运输气体流量和颗粒冲刷性能；
• 紧凑型微集气管设计，以消除脱气和记忆效应；
• 双路高精度数字质量流量控制器和电子控制阀门；
• 系统软件：
  • 硬件部件的全面控制与测量自动化
  • 多功能取样方法：全分析、微区&夹杂物分析，深度分析和元素成像
  • 用于LA-ICP-MS和LIBS分析的强大数据分析模块

• 维护成本低；
• 升级为LA-LIBS复合系统简单：
  • 用于判别和分类分析的LIBS化学计量软件
  • 满足不同分析要求的三种LIBS检测器选项，LIBS可配置双检测器

• 可升级为飞秒激光剥蚀。

三、硬件特点

针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统

主体包括激光源、激光束传输光学器件、样品室、气体流量控制系统。

自动调整样品高度，保证激光剥蚀的一致性

考虑到样品表面的形态变化，采用自动调高传感器。可保持精确的激光聚焦，在所有采样点上提供相同的激光能量，并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀。

具有可互换镶嵌模块的Flex样品室，以优化气流和微粒冲洗性能

根据测量目的(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要对样品室的各个性能指标进行优化，指标包括：冲洗时间、颗粒混合、样品室内的流动特性。Flex样品室的设计能够容纳直径为4英寸的样品，使用一组可互换的顶部和底部镶嵌块来调节气流条件（层流和紊流）和微粒冲洗时间。此外，Flex样品室的设计是为等离子体光提供一个好的视角，从而保证在激光剥蚀过程中进行灵敏的LIBS检测。

创新集气管设计

采用*的集气管设计，大限度地减少了脱气，防止了任何烧蚀颗粒的堆积，并消除记忆效应。容易组装，便于定期清洁输气管道。

高精度气体流量控制系统

气体控制系统使用两个高精度、数字化质量流量控制器（MFC）和电子控制阀，用于氩气、氦气及补充气体的输送，并精确控制气流，防止等离子体火焰熄灭。预设配置可以选择输送氩气、氦气或补充气体。

气体流量控制系统

通过双摄像头和*照明实现样品可视化

拥有*照明系统和高倍光学变焦(高达60X)功能，清晰呈现样品的表面细节。配备双高分辨率CMOS成像摄像机，提供广角视野和高倍成像，以精确地研究精细区域(见下图)。广角视野视图可以保存，并用于定位不同的样品位置，使用高倍镜研究样品。

具有三种独立的照明模式，提高图像质量和对比度：扩散式LED光源，透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。

清晰、高倍放大的样品表面图像

同轴光线不同颜色和强度下的样本图像对比

三种LIBS检测器可选，扩展了仪器功能

三种不同LIBS检测器可选：(1)带有ICCD摄像机的扫描Czerny Turner光谱仪；(2) 配备ICCD摄像机的中阶梯光栅光谱仪；(3)同步六通道CCD光谱仪。做为独立的LIBS仪器系统，可同时配备任意两种检测器。双检测器开辟了新的LIBS检测功能。