菲希尔膜层测厚仪膜厚测试仪

产品名称：射线荧光镀层测厚及材料分析仪

元素范围：从元素氯到铀

设计理念：台式仪器,测量门向上开启

测量方向：由上往下

x射线管：带皱窗口的钨管

高压：三档:30kv.40kV. 50 kv .

孔径：00.3mm可选:00.1 mm: 00.2 mm:长方形0.3 mmx 0.05 mm

测量距离：0 - 80 mm

放大倍数：40x- 160x

电源要求：220v，50 Hz

功率：最大120 W（不包括计算机）

保护等级：IP40

外部尺寸：竟x深×高[mm]: 570x760x650

使用时温度：1oc - 40°c

运输时温度：0°C- 50°c

菲希尔膜层测厚仪膜厚测试仪 特点

紧凑且耐用的台式仪器，采用X射线荧光法进行无损的材料分析

硬件和软件都是针对黄金和贵金属分析进行优化的

样品放置简便，采用了宽敞的测量舱和自下往上的测量方向

符合标准EN 61010, DIN ISO 3497 和ASTM B 568

有4个型号适合于所有测量应用：GOLDSCOPE SD 510, GOLDSCOPE SD 515, GOLDSCOPE SD 520, GOLDSCOPE SD 550

510/515 型号配有硅PIN探测器

520/550 型号配有硅漂移探测器，可在测量相近元素时提供更高的分辨率

FISCHER WinFTM® 软件中已配有分析贵金属的测量程式

应用

在测试实验室中无损分析珠宝、钱币及贵金属

黄金的购买和销售

贵金属分析，牙科研合金材料

认证：精炼厂、金属货币检验室、金属品质证明

银器或黄金合金上的铑镀层厚度测量