FISCHER台式镀层测厚仪X射线荧光分析仪 特点

紧凑且耐用的台式仪器，采用X射线荧光法进行无损的材料分析

硬件和软件都是针对黄金和贵金属分析进行优化的

样品放置简便，采用了宽敞的测量舱和自下往上的测量方向

符合标准EN 61010, DIN ISO 3497 和ASTM B 568

有4个型号适合于所有测量应用：GOLDSCOPE SD 510, GOLDSCOPE SD 515, GOLDSCOPE SD 520, GOLDSCOPE SD 550

510/515 型号配有硅PIN探测器

520/550 型号配有硅漂移探测器，可在测量相近元素时提供更高的分辨率

FISCHER WinFTM® 软件中已配有分析贵金属的测量程式

FISCHER台式镀层测厚仪X射线荧光分析仪 应用

在测试实验室中无损分析珠宝、钱币及贵金属

黄金的购买和销售

贵金属分析，牙科研合金材料

认证：精炼厂、金属货币检验室、金属品质证明

银器或黄金合金上的铑镀层厚度测量