在电镀或电子元件生产过程中需要快速且准确地测定镀层厚度时，XUL®系列测量仪器是您的*选解决方素。X射线荧光仪諸可自 下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有X射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量 需求选择不同的准直器、滤波器以及X射线管。

型号包括:

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240 

特性：

凭借竟大的测量室和自下而上的测量方向，即使大型样品（如：印制电路板或柔性电路板）也可简便、快速地定位

硬件选项丰富多样，可满足各种测量需求

可选配微聚焦X射线管，从而可测量直径仅为100卩m的微型结构和测量表面

应用：

铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品

防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层

印制电路板和柔性电路板上的镀层

接插件和连接器上的镀层

电镀槽液分析

特征：

带玻璃窗口和铝靶的X射线管或带镀窗口和铝靶的微聚焦X射线管。*高工作条件:50KV,50W

X射线探测器采用比例接收器

准直器:固定或4个自动切换，0.05 x0.05mm到直径00.3mm

基本滤片固定或3个自动切换

测量距离可在0-27.5mm范围内调整

固定的样品支撑台或手动XY工作台

摄像头用来查着基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。