一、产品说明：

     UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。执行企业标准Q/HDSDY0003－2014。

二、产品特点：

1、光谱及角度特性经严格校正

2、数字液晶显示，带背光

3、手动/自动量程切换

4、数字输出接口（USB,冗余供电）

5、低电量提醒

6、自动延时关机

7、有数字保持

8、轻触按键操作，蜂鸣提示

三、技术参数：

1、波长范围λ1，峰值波长λp：（320～400）nm，λP＝365nm

2、波长范围λ2，峰值波长λp：（375～475）nm，λP＝420nm

3、辐照度测量范围：(0.1～199.9×10³) μW/cm2

4、紫外带外区杂光：0.02%

5、相对示值误差：±8％（相对于NIM标准）

6、角度响应特性：±5%（α≤10°）

7、线性误差：±1%

8、换档误差：±1%

9、短期不稳定性：±1%（开机30min后）

10、疲劳特性：衰减量<2%

11、零值误差：满量程的±1%

12、响应时间：<1秒

13、使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH

14、尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

15、电源：6F22型9V积层电池（非充电电池）

16、整机功耗：＜0.1VA

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