FLEX_TM是来自于CRAIC科技公司的一款经济但是功能强大的紫外-可见-近红外显微分光光度计。FLEXTM可以对微米量级的样品进行无损的吸收、反射和荧光光谱测试。
FLEXTM显微分光光度计从命名上可以看出是一款具有非常好灵活性的仪器。
FLEXTM能够只使用一个镜头测量微光样品从深紫外到近红外范围的光谱。设计的灵活性和经济性，模糊了科研级和工业使用的显微分光光度计的界限；仪器操作简单易用和功能的强大适合于法医鉴定和工业品质检测。
FLEXTM显微分光光度计的特点是将高灵敏度CCD阵列探测器支柱整合到光度计上，每个探测器都是用TE冷却技术达到降低噪声和保证长时工作稳定性的要求，这使得仪器保持了非常优良的信噪比。FLEXTM包含了一台紫外-可见-近红外显微镜，一套高分辨率彩色成像系统，紫外防护目镜，一台运行Windows7专业版系统的主机和一套整合光谱分析/仪器控制的软件包。FLEXTM操作简单、使用长久耐用，能够提供出非常的实验结果。
应用
痕量证据 文检 表面等离子共振 半导体薄膜厚度
 光谱范围 240 to 900 nm
反射光谱范围 400-900nm
荧光光谱范围 400-900nm
荧光激发 365-546nm
采集面积 1-10000平方微米
荧光发射 254-546nm
光谱分辨率 1-15nm可调
探测器 CCD阵列
探测器制冷 半导体制冷
扫描时间 最小4ms
成像 彩色
成像分辨率 高达500万像素
操作系统 Windows 7 ，8