详细介绍

产品名称：光学薄膜测厚仪ST2000

产品型号：

详细信息

产品简介：

使用K-MAC公司的*光谱系统，可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口，并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建，而测量过程也仅需要基础的电脑知识。

产品特征：

1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8)Table Top型, 适用于大学,研究室等

尺寸	190 x 265 x 316 mm
重量	12Kg
类型	手动的
测量样本大小	≤ 4"
测量方法	非接触式
测量原理	反射计
特征	测量迅速，操作简单非接触式，非破坏方式优秀的重复性和再现性用户易操作界面每个影像打印和数据保存功能可测量多达3层可背面反射

活动范围	150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围	200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸	20㎛典型值
测量速度	1~2 sec./site
应用领域	聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择	参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型	三目探头
nosepiece	Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型	12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer