光学薄膜测厚仪ST80009(大型)

光学薄膜测厚仪ST80009(大型)

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-08-26 13:02:14
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产品简介

光学薄膜测厚仪ST80009(大型)

详细介绍

产品名称:光学薄膜测厚仪ST80009(大型)

产品型号:
ST8000-MAP
The Smallest Spot Size to Measure
Submicron Pattern
Simultaneous Multi-spot Measurement
Half-tone Measurement for 4-Mask Process
Feature
Stage Size370mm x 470 mm~
Measurement Range1000Å~ 2.5㎛ at Sub-micron size
Spot size~ 0.2㎛ x 0.2㎛
Measurement Speed14sec./Area
Application AreasHalf-tone Measurement
All Capability of ST6000/7000
FunctionAll Capabilities of ST6000
Fine Pattern Measurement
Auto Focusing
CCD Camera
Pattern Recognition
CIM Communication
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