激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统-激光诱导击穿光谱仪(LIBS)

J200 LA-LIBS激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统-激光诱导击穿光谱仪(LIBS)

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2020-07-27 11:48:10
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产品简介

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS?允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值

详细介绍

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统能够快速而准确地识别复杂的LIBS发射峰。特定的搜索标准(波长范围、元素组、等离子体激发状态)可以用来在短时间内缩小搜索范围。TruLIBS?允许用户从Axiom LA软件直接加载实验库LIBS光谱来识别和标记峰值,通过将多个硬件指令组合在一起,并及时对它们进行排序,Axiom LA创建了一个存储“方案”。方案一经创建,之后就可以将它们调出,并将它们组合,以提供高度自动化的检测体验。我们只需“调出”整个方案以重复实验,或者复制方案的一部分,将其与新的指令结合起来,以解决新的采样方案。

 设备特点:
1、紧凑型微集气管设计,以消除脱气和记忆效应;
2、高硬度Q开关,短脉冲Nd:YAG激光器波长低至213nm;
3、可将LIBS强度和时间分辨的ICP-MS信号转换为选定元素的非常详细的2D/3D图。

设备优势:
1、针对双重LA/LIBS性能而设计的紧凑、模块化系统,J200系统在于其模块化系统的设计;
2、自动调整样品高度,保证激光剥蚀的一致性J200采用了一种自动调高传感器,该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化;
3、具有可互换镶嵌模块的Flex样品室,以优化气流和微粒冲洗性能根据测量目标(主要成分分析、包裹体分析、高分辨率深度分析、元素成像等)。

J200 LA-LIBS 激光剥蚀-激光诱导击穿光谱复合系统是由ASI公司所生产,ASI公司是一家专门生产光谱仪的公司,在技术上和功能上以及安全性能上都是比较完善和成熟的,该设备对于确定样品表面的污染物、执行涂层分析、了解薄膜结构以及识别位于其下方的夹杂物是一项非常有价值的功能,并可观察从样品中收集到的一组LIBS光谱和质谱之间的差异,通过参考标准浓度值直接赋值给LIBS或ICP-MS强度,单变量校准曲线可轻松生成,可以用于精确定量分析的高级校准模型,LIBS光谱和质谱可以形成光谱库的基础,使用起来非常的简单方便,而且还比较经济实用。

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