HAST老化试验箱广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、

光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。HAST老化试验箱的目的是提高环境应力

(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命

试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用

寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

HAST老化试验箱箱体结构及安全装置：

1、HAST老化试验箱圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测物品，可预防试验中有滴

      水结露现象，可避免蒸汽过热直接冲击操作人员。

2、安全程序自动停机，自动泄压，自动破真空，自动给水，每次加水可持续运行400小时。

3、采用温度与压力安全检知及门禁自动锁定控制系统，圆型测试槽与安全门环扣结构设计，

      当内箱压力越大时，反压会迫使安全门与箱体更加紧密之结合，故内箱压力必须小于正

      常压力时，测试门才能被打开，因此而保证了操作人员的安全。

4、具备异常故障讯号警示功能

HAST老化试验箱产品应用范围：

　　用于调查分析电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布

函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。如：国防、航天、汽车部

件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照

明制品等产品作加速寿命试验测试其密封性能。