ELDIM OptiscopeSA 液晶响应时间测试系统

光的收集和实时分析

      OPTIScope-SA看上去就像一个便携的摄像机，但是它包括了进行实时亮度测定所需要要的所有硬件，根据VESA标准，一个目标物的图像收集了在角度差为±1°范围内的所有光线。通过一个彩色CMOS传感器获得目标物的图形。部分光线经过一个图形顶部过滤器并在光电倍增管中传播，系统也可以进行亮度的测定，是由于其装备了一种可以参照光电二极管进行光电倍增管校准的装置。OPTIScope-SA可以用于各种距离的测定，低可至30厘米。

易操作
      OPTIScope-SA可以方便的使用软件进行测量和调节，使用标准信号发生器或者是ELDIM 研制的 FPDLite 或者是FPDDrive 方法可以方便的进行
各种型号显示器的测试。

高灵敏度
      OPTIScope-SA包括一个高灵敏度的光电倍增管，在极低的光线水平下仍具有较高的灵敏度，亮度低0.0001Cd/m2仍可以轻松的测定。

*自动校准
      系统包括了一个尽可能靠近红外光波曲线的过滤器，光电倍增管的自动校准可以用在系统中包含有的LED光源。所有这些特点使得我们的产品在很低的光线水平下仍具有极其优秀的灵敏度和可再现性等。OPTIScope-Lite是OPTIScope-SA基本的一个版本，它包括相同的光电检测，但没有自动校准和CMOS摄像机，只能用于闪烁源检测和相应时间检测。

信号分析和响应周期

      OPTIScope对于响应时间的分析和测定具有完整而又精密的处理方法。应用了VESA的生产标准，还有禁带过滤器等。响应时间补偿也变的可行。具有不同数字模式的直接衰退可以用来提取更精确的响应时间值，以及其他同实时因素有关系的特性（迟缓、过载等）。专门的运算规则也可以适应于特别的信号，具有黑色不确定因素的显示器可以通过包覆过滤进行分析。

      通过实测纵断面的理论特性的直接衰退，可以得到很多有用的信息。通过一个直接的错误评估可以更精确的决定响应时间。有更多的影响因素可以分析出来，比如：过载、宽频超载、过载时时间延迟的特殊应用等，另外一些固有的影响因素也可以重新处理。

运动图像响应时间（MPRT）
      关于平板显示器的主要运动构件之一就是运动模糊。新的VESA FPDM为了解决这一问题引入移动边缘模糊，这种边缘模糊可以由追踪相机等各 种仪器进行测量。这一技术可以真实的展现附近的情况，但是工作较为繁琐并且造价昂贵，仪器也非常复杂。它要求可以在每个画面进行移动 画面响应时间与灰度值的严格衡量。OPTIScope系统提供这种可能性，它模拟移动边缘模糊并且考虑到运行系统是的显示性能和测量灰色到灰色的时间行为。OPTIScope系统仿真模块由DisplaySpec软件提供测量和分析。 如果Y（x，t）是时间依赖的亮度灰度的像素从1级灰度到2级灰度，如果我们假设响应时间比时帧的时间要短一些，那么光强分布V（x）可以计算： 

      如果液晶显示器有一个理想的响应时间，结果示意图如下图表示。它不是一般个案及模糊边缘宽度（BEW）会大于0.8。如果响应时间超过时帧长度，我们可以申请的帧的数量与响应时间相同。OPTIScope- SA系统采取平均配置文件直接进行测量，没有假设亮度与时间的依赖性。计算方法是由相互间灰度过程中实现自动测量。滚动速度是一个参数。时间框架应该是已知的。模糊边缘宽度，然后评估（一般10至90％ 的亮度为上下界）。归一化边缘模糊时间（NBET = BEW /ν）也可以推导出半独立的滚动速度。

亮度、G曲线和闪烁

      响应时间的测量通常是在一个灰度与另一个灰度之间进行测量。完整的分析可以在从0到255灰度之间的某一灰度进行测量（例如16）。尽管如
此，观看者并不关心灰度值，更多的是关系在这个灰度条件下的显示器的亮度值。相比于灰度值，采用亮度值来进行响应时间的分析无疑更为
有效。

自我校准
      OPTIScope-SA系统具有一个同光电倍增管相适应的光峰过滤器，并且有一个自我校准的部件，允许光电倍增管直接对光的亮度进行测试。在进
行亮度测量前，光电倍增管的自我校准要同信号相适应，并且同时可用光电二极管进行测量。

*的灵敏度
      OPTIScope系统包含有一个敏感的光电倍增管，是目前市场的光电倍增管。可以测量低至0.0001Cd/m2的光亮度。

闪烁测量
      可测由电脑驱动的LED发出的低至-80dB水平的闪烁值

      OPTIScope系统具有全软件操作的环境，可自动进行测量和数据分析，所有特征数据也可以被其他的软件定位，如ActiveX性能。软件附带有示 例说明。