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测角仪侧倾法结构:
其主要特点:
1.2θ平面与ψ平面相垂直;
2.使入射线与线阵探测器的垂直平分线关于ψ平面对称分布;
3.对于不同的材料、靶材和衍射角,需要改变2θ范围时,采用步进电机、钢带传动,同步地、对称地改变X射线管和探测器的位置,维持正确的侧倾法衍射几何布置。
探测器:
瑞士DECTRIS公司的微带X射线探测器(Microstrip X-ray Detectors)。该探测器的接收部分由640硅微带组成,每条硅微带的宽度为50μm,能够灵敏地接收达到一定能量阈值的单个X光子,实现所谓的无噪声单光子计数,并且具有抗辐射、免维护和无限寿命的特点。
技术参数:
测量方法,其特点如下:
正确的侧倾法(或称为χ法、ψ测角仪,基本免除吸收因子影响)。
允许设置多个正负ψ角和φ角进行测试测试(解决织构材料应力测试、三维应力测试问题)。
摆动法(解决粗晶材料的应力测试问题)。
残余奥氏体含量测定。
被测材料:适合于铁素体型、奥氏体型钢、铝、钛、镍,和金、银、铂等贵金属,以及氧化锆等陶瓷材料。
X射线管:Cr、Cu、Mn靶材。
高压电源:大功率30kV×10mA。
探测器:硅微带线阵探测器(无噪声单光子计数,抗辐射、免维护和无限寿命)。640通道。覆盖范围24°。
2θ范围:117°~170°,2θ分辨率0.0375°。
ψ角范围:±60°。
准直管:内径为?0.5mm、?1mm、?1.5mm、?2mm、?3mm计5个规格,可以更换。
测试点定位:采用激光定位器。
X射线管冷却系统:封闭恒温循环水箱。
辐射:在仪器工作状态,防护罩之外辐射剂量等同于大气本底,无防护的条件下,2米之外的辐射剂量等同于大气本底。
电源:2000W,220V,50Hz。