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38DL PLUS是一款高级超声测厚仪。这款仪器可使用双晶探头对内部腐蚀的部件进行检测。其性能包含THRU-COAT?（穿透涂层）和回波到回波。还可以使用单晶探头对薄材料、极厚材料以及多层材料进行非常精确的厚度测量。
38DL PLUS超声测厚仪：
性能高级、操作简便、坚固耐用、结果可靠
38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头*兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在*的黑暗中都能具有的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
主要特性
? 可与双晶和单晶探头兼容。
? 宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
? 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
? 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
? 内部氧化层/沉积物软件选项。
? 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
? 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
? 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
? 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
? 厚度、声速和渡越时间测量。
? 差分模式和缩减率模式。
? 时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数。
? 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
? 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
? 设计符合EN15317标准。
这款测厚仪与其他测厚仪有何不同？
38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场多么潮湿、有多大的尘沙、多么寒冷或多么炎热、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常进行检测工作。如果您需要一款防撞击、防坠落、坚固结实的测厚仪器，那么，符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。
抵御恶劣环境的能力
? 袖珍型，仅重0.814公斤。
? 坚固耐用，设计符合IP67标准。
? 爆炸性气氛：通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试，可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组中定义的爆炸性气氛环境中安全操作。
? 防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。
? 防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
? 宽泛的工作温度范围。
? 带有支架的橡胶保护套。
? 彩色透反VGA显示，带有室内和户外颜色设置，具有的清晰度。
简便操作的设计理念
户外显示设置，A扫描模式 室内显示设置，B扫描模式
? 可用右手或左手单手操作的简洁的键区。
? 可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
? 内置和外置MicroSD存储卡。
? USB和RS-232通讯端口。
? 可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
? 可连接计算机或显示器的VGA输出。
? 默认或自定义双晶探头设置。
? 默认或自定义单晶探头设置。
? 密码保护功能可以锁住仪器的功能。
数据记录器和PC机接口
38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。
? 内置存储容量为475000个厚度读数或20000个带有厚度读数的波形。
? 32位字符的文件名称。
? 20位字符的ID# (TML#)编码。
? 9个文件格式：增量型、序列型、带自定义点的序列型、2-D栅格型、带自定义点的2-D栅格型、3-D栅格型、3-D自定义型、锅炉型及手动型。
? 每个ID# (TML)编码可多存储4个注释。
? 注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上。
? 内置和外置MicroSD存储卡。
? 可以在内置和外置MicroSD存储卡之间拷贝文件。
? 标准USB和RS-232通信。
? 单晶和双晶探头设置的双向传输。
? 机载统计报告。
? 机载DB栅格视图，带有3种可编程的颜色。
? GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信，可以读取MicroSD存储卡上的数据，还可以在存储卡上写入信息。
? 可将内部文件以与Excel兼容的CSV（以逗号分隔值）格式直接导出到MicroSD存储卡。
机载DB栅格视图，带有3种可编程的颜色。
GageView?
? 基于Windows的GageView接口程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据。
? 创建数据集和测量总结。
? 编辑所存数据。
? 显示数据集和测量总结文件，文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值。
? 从测厚仪上下载厚度测量总结，或上传厚度测量总结至测厚仪。
? 将测量总结导出到电子表格及其他程序。
? 收集捕获的屏幕。
? 打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告。
? 升级操作软件。
? 下载和上传单晶和双晶探头设置文件。
? B扫描回顾
标准配置
38DL PLUS数字式超声测厚仪，交流电源或电池供电，50 Hz～60 Hz。
标准双晶探头套装盒
? 充电器/AC适配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
? 内置数据记录器
? GageView接口程序
? 试块和耦合剂
? USB线缆
? 橡胶保护套，带有支架和颈挂带
? 用户手册
? 两年有限担保
测量功能：穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、小值/大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/小值模式
技术规格
测量 | |
双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延时到个回波之间的时间间隔。 |
穿透涂层测量模式 | 利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。 |
穿透漆层回波到回波测量模式 | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
单晶探头测量模式 | 模式1：激励脉冲与个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟线回波与个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 模式3：在激励脉冲之后，位于个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。 |
氧化层模式： | 可选。 |
多层模式： | 可选。 |
厚度范围 | 0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。 |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米 标准分辨率：0.01毫米 高分辨率（可选项）：0.001毫米 |
探头频率范围 | 标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） |
高穿透（可选项）： | 0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
一般规格 | |
工作温度范围 | -10°C～50°C |
键区 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈。 |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳；机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
外型尺寸（宽 x 高 x厚） | 总体尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
重量 | 0.814公斤 |
电源 | AC/DC适配器，24 V；锂离子电池，23.760 Wh；或4节AA辅助电池。 |
锂离子电池供电时间 | 工作时间：少12.6小时，一般14小时，多14.7小时。快速充电：2小时到3小时。 |
标准 | 设计符合EN15317标准。 |
显示 | |
彩色透反VGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
检波 | 全波、RF波、正半波、负半波 |
输入/输出 | |
USB | 1.0从接口。 |
RS-232 | 有。 |
存储卡 | 大容量：2 GB外置MicroSD存储卡。 |
视频输出 | VGA输出标准。 |
内置数据记录器 | |
数据记录器 | 38DL PLUS通过标准RS-232串口或USB端口识别、存储、回放、清除、传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形。 |
文件名称、ID编码及注释 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码，每个位有四个注释。 |
文件结构 | 9个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构。 |
报告 | 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的小值/大值、小值回顾、文件比较及报警报告。 |
