产地：北京

 GCSTD-A介电常数测试仪

一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至**，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、仪器的技术指标

1．Q值测量

a．Q值测量范围：5～999。

b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。

c．标称误差

      频率范围：20kHz～10MHz；

      固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤9％±满度值的2％；

      频率范围：10MHz～50MHz；

      固有误差：≤10％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。

2．电感测量

a．测量范围：0.1μH～1H。

b．分    档：分七个量程。

      0.1～1μH，    1～10μH，    10～100μH，

      0.1～lmH，     1～10mH，     10～100mH，   100 mH～1H。

3．电容测量

a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；

b．电容量调节范围

      主调电容器：40～500pF；

      准  确  度：150pF以下±2pF；150pF以上±1.5％；

      微调电容量：－**F～0～＋**F；

      准  确  度：±0.2pF。

4．振荡频率

a．振荡频率范围：20kHz～50MHz；

b．频率分档：

20～99.999kHz， 100～999.99kHz， 1 MHz～9.9999MHz， 10 MHz～50MHz

c．频率误差：2×10^-4±1个字。

5．Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。

6．仪器正常工作条件

a. 环境温度：0℃～+40℃；

b．相对湿度：< 80％；

c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。  

7．试样尺寸

圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε<12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε>30时）

8．其他

a．消耗功率：约25W；

b．净重：约7kg；

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

三、实验步骤：

1．本仪器适用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流电，使用前要检查市电电压是否合适，**采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。

2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。

3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根Φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。

4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C₁，品质因素为Q₁。

5． 将被测样品接在“C_X”接线柱上。

6．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为C₂，可以直接读出Q₂，并且Q₂= Q₁－△Q，。

7．用游标卡尺量出试样的直径Φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据，再取其平均值）。

8.方形式样按其边长的4倍计算Φ值

四、实验结果

1．tanδ和ε测定记录

实验数据按表1要求填写。

表1                  tanδ和ε测定记录表

2．计算

1）介电常数ε

ε=

式中：C---试样的电容量（PF）, C= C₁－C₂；

d---试样厚度（cm）；

Φ—试样直径（cm）。

2）介质损耗角正切tanδ

              tanδ=      *      =      *

3) Q值

               Q =    =     *

五、注意事项

1．圆片形试样的尺寸（Φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。

2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。

3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。

4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。

5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡，“本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应＊小，而无大变化。