新开发的可快速响应的HT扫描器加之软件与控制系统设计的优化，成功实现扫描速度比传统设备快5倍以上。

别具一格的探针更换夹具，让小心翼翼的探针更换操作变得简捷轻松。

样品交换时也可保持激光稳定照射悬臂。照射稳定性优异，分析时间也大幅度缩短。

可从不同角度放大拉伸图像进行确认。鼠标操作简单，更可进行3D断面形状分析。

按照操作指南指导操作顺序，使用导航功能直接锁定观察位置，实现了SPM的快速简便的观察。

具备丰富的测定模式和优异的扩展性，可对不同硬度、不同导电性能等各式样品进行观察分析。

控制气氛扫描探针显微镜 WET-SPM
可以控制样品和周边环境，在可控气氛下进行样品处理，并直接进行SPM观察。

选配系统具有温度湿度控制单元、样品加热冷却单元、样品加热单元、吹起单元。

• 粒度分析软件
  从图像数据中选取复数颗粒，对每一颗粒进行特征量的计算，并进行分析、显示，以及及进行统计处理。