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高低温冲击试验箱产品应用
应用于半导体器件、电子产品和其他*.*/*设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。
结构特点
原装法国“泰康”或德国“谷轮”二元复叠制冷（水冷）（风冷）原装韩国“TEMP-880S”冷热冲击试验仪控制器，支持多种语言，人机对话，触摸彩屏，数据记录、保存、打印、显示PV曲线内胆为优质进口不锈钢，外壳为A3钢板静电喷涂试件端子接口
控制系统
操作自动化、简单化是控制系统设计的方向，使用者可以对试验过程本身的投入更少的精力，而更多的时间用在对试验结果的研究。控制系统选用可多步编程的控制以满足各种复杂的试验要求。
制作工艺
对制作工艺的高标准要求，使我们的产品在外观，部件制作质量方面，达到行业标准。
执行与满足标准及试验方法
BS EN 2591-323-1998 电气和光学连接元件，试验方法：温度冲击
GJB 150.5-1986 *.*/*设备环境试验方法 温度冲击试验
GJB 595.4-1988 炮兵光学仪器环境试验方法 温度冲击试验
GJB 797.4-1990 地雷爆破器材环境试验方法 温度冲击试验
HB 5830.10-1984 机载设备环境条件及试验方法 温度冲击试验
QJ 1177.5-1987 地空、舰空武器系统环境试验方法 温度冲击试验
QJ 1184.3-1987 海防环境规范 弹上设备温度冲击试验
SJ 20115.3-1992机载雷达环境条件及试验方法 温度冲击试验
WJ 1743.4-1987 1301灭火瓶环境试验 温度冲击试验等国家试验标准
高低温冲击试验箱型号与参数
| 型号 | CJ-50 | CJ -100 | CJ -200 | CJ -300 |
| 试验方式 | 二箱式（工件移动方式） （三箱式）试件静止方式 | |||
| 高温室 | 预热温度范围：+60℃～+200℃ 升温速度：+60℃～+200℃约25分钟 | |||
| 低温室 | 预冷温度范围：-70℃～0℃ 降温速度：+20℃～-70℃约55分钟 温度恢复时间：5分钟 升降时间：10秒 试样搁架承载能力：1～30㎏ | |||
| 试样重量 | 2.5㎏ | 7.5㎏ | 10㎏ | 12㎏ |
| 试件工作间尺寸（mm） | 1352×π×240 （300×450×350） | 1752×π×270 （400×500×500） | 2702×π×270 （600×650×500） | 3252×π×2740 （550×750×700） |
非标可定做
