理加联合参加第六届高光谱成像技术及应用研讨会
时间:2022-11-28 阅读:57
2022年10月29至30日,第六届高光谱成像技术及应用研讨会在上海成功举办,本次活动由中国光学工程学会主办,上海技术物理研究所、核工业北京地质研究院遥感信息与图像分析技术重点实验室等单位共同承办。由王建宇院士,顾逸东院士和江碧涛院士担任大会主席。本次会议采取了线上与线下同步的模式,参会代表400余人。
本次会议报告主要分为支撑技术、应用方向和热点方向三个大方向,大会主旨报告有5篇,包括刘文清院士——大气痕量成分探测的光谱学技术;江碧涛院士——大数据时代天基遥感信息处理与应用思考;舒嵘研究员——基于火星表面环境模拟平台(MarSDEEP)的LIBS探测与分析;龚威教授——对地观测高光谱激光雷达成像技术及其应用;虞益挺教授——MEMS光功能芯片及其光谱成像应用。大会报告内容详实,专家们高屋建瓴地总结了高光谱技术的进展,并展望应用成果与前景。另外,大会设置了四个平行分会场交流了10个分议题。
应主办方邀请,北京理加联合科技有限公司(简称:理加联合)在会场设立了展台,展出了高光谱相关的产品及产品信息,并提供了技术咨询,为用户详细介绍了产品的应用以及操作技巧,赢得了广泛好评。
会议开展期间,学者们围绕高光谱成像技术进行了热烈的探讨,加强了高光谱成像技术的交流与发展,总结了其进展,推进了我国光谱成像技术领域成果展示。
作为专业的光谱产品供应商和技术服务商,从2017年开始,在厂家的技术指导下,理加联合先后成立了两个光谱定标实验室:ASD地物光谱仪定标实验室和Resonon高光谱成像定标实验室,均溯源到美国国家标准与技术研究所(NIST),保证用户仪器稳定运行,确保用户得到更准确的光谱数据。不忘初心,牢记使命,理加联合会一如既往为您提供的产品,专业的技术支持,更细致、周到的技术服务。