TS-X 轮廓测试仪，X轴承载工件，Z轴进行轮廓扫描，数据采集和控制都基于*的数字技术。机械基础是很高质量的花岗岩使用精的基本元素不需要我们的系统的后续和复杂的错误补偿。稳定性好，使用寿命长。

德国T&S TS-X 轮廓测试仪产品简介：

TS轮廓测量仪

GS / GM-X轮廓测量仪

TS-X轮廓测量仪

CV120轮廓测量仪

CV300轮廓测量仪

产品线：

对中夹具 UZ系列

外圆对中夹具 AZ系列

对中水平放置台 KZT系列

对中夹具 ZS系列

综合支架 WSE系列

角度调整卡 WSF系列

棱柱支撑 WP/WPS系列

德国T&S TS-X轮廓测试仪：

.X轴和z轴无摩擦的空气轴承

.测量范围(280 x 350 m)

.混合陶瓷测点

.X方向的静态探测和测量数据记录

.粗糙度检测模块是标准供货的一部分

.承载能力25 kg(可选很大50kg

.Y轴调整台可手动和马达自动调节

.非接触式增强型线性光栅尺

.测量系统分辨率1纳米

·性价比高

.误差很限:±(0.85 +L / 100) um[L以毫米为单位的测量路径](不改变扫描方向)

.在整个测量范围内都可以进行轮廓和粗糙度测量

.故障限制: ± (0.9 + L/100) μm [L = 测量路径 (毫米) (共质 TS)

.故障限制: ± (0.85 + L/100) μm [L = 测量路径 (毫米) (Contuatic TS-X)

.软件要求: ConturoMatic: W10/ 64Bit可选W7 / 64Bit

德国T&S TS-X粗糙度测量:

.表面粗糙度的测量

(参考表面测量的机械原理)

.测量粗糙度范围:280 x350毫米

·有效分辨率:1 nm

·测量速度:0.1-0.5毫米/秒

.测量力:7.5 mN(可变调节)

.测量点距离:约0.5微米

·适合粗糙度:Rz> 0.5um, Ra> 0.05um

·精度:5%