本产品中光谱仪的激光光源发射谱线，经过测试样本后，光谱仪接收谱线，谱线经过光栅分谱后形成光谱，测量每种谱线的强度，再对比穿过样本前谱线强度，计算出样本的透过率，或者测试样本的厚度。相对于之前市场上的透过率检测仪，本产品的误差更小，并且可以同时进行透过率和厚度的检测，本产品采用了的共聚焦技术，能够有效 防止杂质信号，如灰尘荧光、样品背面污染、玻璃的荧光信号、空气中常见的灰尘颗粒等产生的背景噪音的影响，大大提高了测量精度。

产品优势

   1.采用*的共聚焦技术，光谱，成像，检测光源共焦于同一点，保证所见即所测。

    2.采用宽波段消色差技术，400-1000nm范围内色差控制在较小的范围内。

    3.检测信号强，光学系统的数值孔径为0.18，比普通显微镜的0.02大9倍。

    4.测量斑点小，5倍镜头下，检测光斑小于0.1mm。

    5.无需担心外界光干扰，在共焦的条件下外界光无法进入系统光路。

    6.采用进口光谱仪为检测器，提高光谱的灵敏度和稳定性。

应用领域

    1.手机面板、遥控设备、小孔透过率检测，微小滤光片透过率检测。

    2.滤光片、有机材料、镀膜片透过率检测。

    3.微孔滤光片、薄膜材料透过率检测。

    4.毛细管、液滴、微量溶液透过率检测。

    5.不规则薄膜、塑料膜层、高分子材料膜层膜厚检测。

    6.薄膜厚度检测。

技术参数