孔隙率测定仪

JW-K孔隙率测定仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 17:17:06
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北京精微高博科学技术有限公司

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产品简介

氮吸附法比表面积测定与孔隙率  

详细介绍

技术参数

JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪

原理及方法
氮吸附法比表面积测定与孔隙率
单层及多层吸附理论
毛细孔凝聚理论
动态气相色谱法
BET法(多点法、单点法)
直接对比法比表面积分析

多种功能
吸(脱)附等温曲线测定
BJH孔径分布测定
总孔容积、平均孔径测定
BET比表面积分析测定(多点法、单点法)
Langmuir比表面积分析测定
直接对比法比表面积分析测定


主要特点

工作气体: 高纯氮气(吸附质)
高纯氦气(载气)
气体流量: ≤100 ml/min
流量显示: 数字显示系统
氮气分压: 0.05~0.98 (自动计算)
工作压力: 常压
测定范围: 孔径 2~200nm
比表面积 ≥0.1M2/g
无规定上限
样品数量: 孔径被测样品2个
BET比表面被测样品2个
直接对比法被测样品1个
标定方法: 定量体积氮气(孔径及BET比表面积测定)
固体标样(直接对比法)
测量时间: (每个样品)
孔径分布 2~4小时
≤20分钟 (BET法)
≤10分钟 (直接对比法)
重复精度: ≤±3%

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