日本IETT LZ-200J测厚仪 膜厚计

日本IETT LZ-200J测厚仪 膜厚计

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具体成交价以合同协议为准
2023-12-28 09:26:51
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东莞市捷科自动化设备有限公司

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产品简介

日本IETT LZ-200J测厚仪

详细介绍

特点:本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电覆层的厚度(如珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。   

型号 LZ-200J LE-200J LH-200J   

测定方法 电磁式 高频涡流式   

测定对象 磁性金属上非磁性涂度层 非磁性金属上绝缘层   

测定范围 0~1500um 0~800um   

测定精度 ≤ 50um±1um > 50um ± 3%   

分辨率 ≤100um 0.1um > 100um 1um   

测试面积 ≥5x5mm 统计功能 测试数/值/最小值/平均值/标准偏差 界限设定 可设定上/下限数值 测试单位 公/英制 显示方式 LED数显 操作面板 密封防水按键 数据记忆 3142个(330C系列)   

信号输出 RS232标准接口(330C系列)   

附属品 铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书   

电源 DV6V 5#电池 x 4个
体积 75(W) x 145(D) x 31(H)   

重量 500g

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