日立牛津镀层测厚仪
日立牛津镀层测厚仪
日立牛津镀层测厚仪
日立牛津镀层测厚仪
日立牛津镀层测厚仪

X-Strata920日立牛津镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2020-01-19 08:50:01
329
属性:
测量范围:22TI-92U;测量精度:微英寸;产地:进口;加工定制:否;外形尺寸:610*1037*375mm;重量:60kg;
>
产品属性
测量范围
22TI-92U
测量精度
微英寸
产地
进口
加工定制
外形尺寸
610*1037*375mm
重量
60kg
关闭
深圳市谱赛斯科技有限公司

深圳市谱赛斯科技有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

日立牛津镀层测厚仪X-Strata920介绍
牛津镀层测厚仪X-Strata920:是X射线荧光镀层测厚仪,利用X射线照射产品,产品的不同元素产生不同的X射线荧光,仪器分析X射线荧光的波长和能量,从而计算出不同元素的膜厚,是牛津仪器开发的新一款镀层测厚仪:是CMI900升级换代的产品,系统软件,硬件均进行了更新.具有非破坏,非接触,无损测量的的能力,:一键定焦,有效的避免了人为操作的误差:

详细介绍

应用行业:
PCB,LED,FPC,连接器,半导体,天线,电容电阻,螺栓,弹簧类紧固件,五金卫浴,汽车零用部件,功能性电镀件,首饰品,装饰品,合金等多个行业

日立牛津镀层测厚仪的特点:

测量元素范围:钛Ti22---铀U92;
测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;
测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;
快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;
可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;
进行贵金属检测,如Au karat评价;
材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;

技术参数:

日立牛津镀层测厚仪X射线激发系统:
50W(45KV,1.0mA)微聚焦钨把X射线管,提供更小X射线斑点,增加计数率:
垂直下照式X射线光学系统:
配备安全放射线光闸

准直器系统:
可选:单准直器组件,多准直器组件(可同时配备4种规格的准直器)
准直器具有多种形状和规格尺寸
准直器的形状:圆形,矩形
准直器规格尺寸:
圆形准直器:0.1、0.15、0.2、0.3mm等
矩形准直器:0.025X0.05、0.05X0.05、0.013X0.254、0.254X0.254、0.051X0.254mm等

样品室:
开槽式样品室,
Z轴自动控制,移动行程43mm
XY轴手动控制,
工作台面分为,固定样品台、加深样品台、自定义样品台

样品台:
固定样品台:
样品高度33mm
仪器外形尺寸(宽深高)407*770*305mm

加深样品台:
样品高度160mm
仪器外形尺寸(宽深高)407*770*400mm
样品仓内部尺寸(宽深高)279*508*152mm
样品仓均有4个卡槽位置,卡槽垂直间距25.4mm,方便测量不同高度的样品

自定义样品台:
依据客户要求可提供更高的样品台满足高度大于160mm的样品测量,样品仓均有4个卡槽位置,卡槽垂直间距25.4mm

样品观察系统:
高分辨率彩色CCD观察系统,标准光学放大倍数为30倍。
50倍和100倍观察系统选配

结果输出:
测量结果可以直接打印,或者一键生成PDF,Excel文件
测量结果包含数据、图像、统计图表、客户信息等,可用系统预置模版或者自制模版。
统计图表包含:平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图

上一篇:镀层厚度测试仪探头使用中经常遇到的问题 下一篇:纸张测厚度仪|台式测厚仪|工作原理|技术特征
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话