快速温度循环试验箱 高低温试验箱

ZK-ESS-1000L快速温度循环试验箱 高低温试验箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-11-23 09:48:44
277
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东莞市华台测试仪器有限公司

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产品简介

快速温度循环试验箱是用来考察电路板、单元、整机等各层次产品从研制阶段转向生产阶段的过程中由热机械性能引起的疲劳损坏和性能降低。快速温度循环试验箱主要受温度变化范围、温度变化速率、循环次数、筛选温度时间历程、产品通电与不通电等因素的影响,不同的产品施加的应力范围不同,所激发暴露的缺陷也不同,因此借助FMECA及FAT等手段来判断常出现和严重程度大的失效类型来提前暴露产品存在的缺陷。

详细介绍

快速温度循环试验箱

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快速温度循环试验箱特点


1.快速温度循环试验箱经提取欧美及日本设计与制造工艺理念,采用前沿的制冷控制模式,可使输出功率从0%~*自动调节压缩机制冷量,较传统平衡调温调湿模式耗能减少30%。制冷系统为*压缩机低噪音模块化二元复叠热交换水冷式机组设计,可使温度循环按线性与非线性快速温变,同时温变速率可实现5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min等可靠性条件。

2.制冷及电控、温控系统关键配件均采用,每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保设备运行期间高可靠性,使设备的综合性能得到*释放提升。

3.USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足用户多种需要,实现运行数据交换功能,能与用户主机连接进行远程操控,实时了解设备运行状况,可通过任何移动终端监控。

4.可实现温度定值控制和程序控制(选购加装湿度模块),具备高低温快速温变(温度循环应力筛选)、高温高湿试验、冷热循环试验、湿热交变试验、恒温恒湿试验、结露试验等多种可靠性测试。满足不同用户对多种产品存在的缺陷与失效得到提前暴露和发现。


快速温度循环试验箱技术参数

1.工作室容积:150L,225L,408L,500L,800L,1000L。(可定制非标机型)

2.温度范围:-70℃~+150℃。

3.湿度范围:20%~98%RH;10%~98%RH;5%~98%RH。(选购模块)

4.温变速率:5℃/min;10℃/min;15℃/min;20℃/min;25℃/min。(选购:线性与非线性温变)

5.温变范围:-40℃~+85℃或-55℃~+125℃。(可按需求定制)

6.温度波动度:±0.5℃。

7.温度均匀度:±2.0℃。

8.湿度波动度:±1.0%RH。

9.湿度均匀度:±3%R.H。

10.温湿度值偏差:≤±2.0℃/3%RH。

11.电源:AC380V(五线制)±5%。

11.制冷系统:*压缩机低噪音模块化二元复叠热交换设计水冷式制冷机组。

12.加热系统:进口SUS304#不锈钢鳍片式耐湿、耐热、耐寒加热管,空气式控温。

13.节能方式:冷端PID调节(即加热不制冷,制冷不加热),比平衡调温方式节能30%。

14.保护装置:压缩机过载、过流、超压保护、漏电保护、内箱超温保护、加热管空焚保护。

15.快速温度循环试验箱标准型号及规格选择如下,可按需求非标定制。

型 号        内箱尺寸(mm)     外箱尺寸(mm)

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-500L    W800×H900×D700     W1100×H2100×D1450

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650 

快速温度循环试验箱试验条件

1. NABMAT-9492美军制造筛选

温度范围:+55℃~-53℃;温变速率:15℃/min;循环数:≧40次 驻留时间为内部达到温度15℃时。

2. GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选

温度范围:+70℃~-55℃;温变速率:5℃/min;循环数:≧10次 达到温度稳定的时间。

3. 笔记型计算机

温度范围:+85℃~-40℃;温变速率:15℃/min;循环数:≧10次 达到温度稳定的时间。

4. GJB-1032-90、MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选

温度范围:+125℃~-55℃;温变速率:10℃/min;循环数:10次;驻留时间为内部达到温度10℃时。

5. MIL-344A-4-16电子设备环境应力筛选

温度范围:+71℃~-54℃;温变速率:5℃/min;循环数:10次;循环时间:3h20min。

6. GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选

温度范围:+85℃~-55℃;温变速率:15℃/min;循环数:≧25次 达到温度稳定的时间。


快速温度循环试验箱参考标准

1.MIL-344A-4-16 电子设备环境应力筛选。

2.MIL-2164A-19 电子设备环境应力筛选方法。

3.NABMAT-9492 美军制造筛选。

4.GJB/Z34-5.1.6 电子产品定量环境应力筛选指南。

5.GJB 1032-90 电子产品环境应力筛选方法。

6.GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验。

7.GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验。

8.GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分:湿热试验。

9.GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。

10.GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温。

11.GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温。

12.GB/T 2423.3-2016 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验。

13.GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Db:交变湿热。

14.GB/T 2423.22-2012(IEC68-2-14)试验N:温度变化试验。

15.GB/T 2423.34-2012 (IEC68-2-38)试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验。

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