快速升降温试验箱用途

快速升降温试验箱应用在航空航天工业、国防研发、高校院所科研、汽车制造、智能手机制造、新能源动力电池、光电通讯等行业，主要对电工电子产品及元器件、零部件、材料进行快速升温及降温之高低温试验，测试其在温度快速变化的环境下使用时的适应性，是品管工程和产品研发、筛选、分析的可靠性有效方案。

快速升降温试验箱特点

1.快速温变试验箱经提取欧美及日本设计与制造工艺理念，采用前沿的制冷控制模式，可使输出功率从0%～*自动调节压缩机制冷量，较传统平衡调温调湿模式耗能减少30%。制冷系统为*压缩机低噪音模块化二元复叠热交换水冷式机组设计，可使温度循环按线性与非线性快速温变，同时可实现温变速率5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min等可靠性条件。

2.可实现温度定值控制和程序控制（选购加装湿度模块），具备高低温快速温变（温度循环应力筛选）、高温高湿试验、冷热循环试验、湿热交变试验、恒温恒湿试验、结露试验等多种可靠性测试。满足不同用户对多种产品存在的缺陷和失效得到提前暴露和发现。

3.制冷及电控、温控系统关键配件均采用，每台电机均配置过流（过热）保护/加热器设置短路保护，确保设备运行期间高可靠性，使设备的综合性能得到*释放提升。

4.USB接口、以太网通讯功能，使得设备的通讯和软件扩展功能满足用户多种需要，实现运行数据交换功能，能与用户主机连接进行远程操控，实时了解设备运行状况，可通过任何移动终端监控。

快速升降温试验箱作用

1.在研发阶段协助早期发现设计问题，提高设计可靠度，缩短研发进程。

2.提早剔除早夭期失效，即降低使用时的失效率，提高MTBF或可靠度，增强使用者的信心。

3.发掘生产人员不熟练或疏忽所造成的工艺瑕庇，确认具有潜伏性缺陷的零组件。

4.降低较高产品组合层次失效维修或报废的概率，减低延误、节省产品制造和维修整体成本。

5.经过应力筛选ESS的产品在顾客手中使用时的失效率较低，这可提高顾客对公司产品的信心及依赖，这是一种无形却非常重要的效益。

快速升降温试验箱技术参数

1.工作室容积：150L，225L，408L，800L，1000L。（可定制非标机型）

2.温度范围：-70℃～+150℃。

3.温变速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（选购：线性与非线性温变）

4.温变范围：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

5.温度波动度：±0.5℃。

6.温度均匀度：±2.0℃。

7.温度值偏差：≤±2.0℃。

8.承载重量：8.0kg。

9.功率：8.0KW～35.0KW。

10.电源：AC380V（五线制）±5%。

11.制冷系统：*压缩机低噪音模块化设计二元复叠水冷式制冷机组。

12.加热系统：进口SUS304#不锈钢鳍片式耐湿、耐热、耐寒加热管，空气式控温。

13.节能方式：冷端PID调节（即加热不制冷，制冷不加热），比平衡调温方式节能30%。

14.保护装置：压缩机过载、过流、超压保护、漏电保护、内箱超温保护、加热管空焚保护。

15.标准配置：观测窗一个、LED视窗灯一支、保险管2支、物料架2套。

16.快速温度变化试验箱标准型号及规格选择如下，可按需求非标定制。

 型 号        内箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

快速升降温试验箱参考标准

1.GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验。

2.GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验。

3.GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验。

4.GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则。

5.GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温。

6.GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验B：高温。

7.GB/T 2423.3-2016 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验。

8.GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Db：交变湿热。

9.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）试验N：温度变化试验。

10.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验。

快速升降温试验箱试验条件

1. NABMAT-9492美军制造筛选

温度范围：+55℃～-53℃；温变速率：15℃/min；循环数：≧40次 驻留时间为内部达到温度15℃时。

2. GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选

温度范围：+70℃～-55℃；温变速率：5℃/min；循环数：≧10次 达到温度稳定的时间。

3. 笔记型计算机

温度范围：+85℃～-40℃；温变速率：15℃/min；循环数：≧10次 达到温度稳定的时间。

4. GJB-1032-90、MIL-2164A-19电子设备环境应力筛选

温度范围：+125℃～-55℃；温变速率：10℃/min；循环数：10次；驻留时间为内部达到温度10℃时。

5. MIL-344A-4-16电子设备环境应力筛选

温度范围：+71℃～-54℃；温变速率：5℃/min；循环数：10次；循环时间：3h20min。

6. GJB/Z34-5.1.6电子产品定量环境应力筛选

温度范围：+85℃～-55℃；温变速率：15℃/min；循环数：≧25次 达到温度稳定的时间。