霍尔效应测量系统 HEMS
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伯东企业(上海)有限公司
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2.广泛的材料: GaAs, lnP, lnAs, Si, Ge, SiGe, HgCdTe, GaN, SiC, AIN, 金属氧化物和有机导体
3.非常适合于材料研究, 产品开发和质量控制
4.样品电阻率, 电阻率, 霍尔系数, 霍尔迁移率, 载流子浓度或电流电压特性
5.Windows 操作系统用于系统操作, 数据采集和分析
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