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45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款*特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容,是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器,可用于几乎所有测厚应用。
供应奥林巴斯45MG超声波测厚仪 深圳埃科瑞技术参数:
测量 | |
双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延迟到*个回波之间的时间间隔。 |
自动回波到回波(可选) | 在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。 |
穿透涂层测量 (可选) | 利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7906探头) |
单晶探头测量模式(可选) | 模式1:激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 模式2:延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔(使用延迟块或水浸式探头) 模式3:在激励脉冲之后,位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟块探头或水浸式探头)。 |
厚度范围 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量较全的范围需要使用单晶选项) |
材料声速范围 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) |
分辨率(可选择) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 标准分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 单晶选项:0.001毫米(0.0001英寸) |
探头频率范围 | 标准:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(单晶选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) |
一般规格 | |
操作温度范围 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘,带有触感及声音反馈 |
机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳,机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
外型尺寸(宽 x 高 x 厚) | 总体尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
电源 | 3节AA电池/USB电源供应 |
电池工作时间 | 3节AA碱性电池:20到21小时 3节AA镍氢电池:22到23小时 3节AA锂离子电池:35到36小时 |
标准 | 设计符合EN15317标准 |
显示 | |
彩色透反QVGA显示 | 液晶显示,显示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
检波 | 全波、RF波、正半波、负半波(波形选项) |
输入/输出 | |
USB | 2.0从接口 |
存储卡 | 大容量:2 GB可插拔MicroSD存储卡 |
内置数据记录器(可选) | |
数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
容量 | 475000个厚度测量读数,或20000个带厚度值的波形 |
文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名,20位字符的字母数字位码 |
文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
报告 | 机载报告总结了数据统计和小值/大值 |
标准配置
软件选项
选购附件
供应奥林巴斯45MG超声波测厚仪 深圳埃科瑞
抵御恶劣环境的能力
坚固耐用,设计符合IP67标准。
爆炸性气氛:可在国家防火协会规范(NFPA 70)500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作,并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
防撞击测试:通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试,每轴6个循环,15 g,11 msec半弦波。
防振动测试:通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试,一般暴露:每轴1小时。
宽泛的操作温度范围
可选的带有支架的橡胶保护套
简便操作的设计理念
可只用右手或左手操作的简洁的键区
可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面
使用内置microSD存储卡和可插拔microSD存储卡的存储方式
USB通讯端口
可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器
默认或自定义单晶探头设置(可选)
密码保护方式的仪器锁定
彩色透反QVGA显示,带有室内和室外颜色设置,具有的清晰度
可选功能
只需几次按键,即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项,从而跻身于工业领域中用途十分广泛的测厚仪行列。
回波到回波/穿透涂层:使用回波到回波选项,仪器屏幕上会显示金属的实际厚度,而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度,这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此,在进行厚度测量时,无需去掉材料表面的漆层或涂层。单晶:这个选项可对很多材料,如:金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷,进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。单晶高穿透:这个选项可对较厚或衰减性较高的材料,如:玻璃纤维或铸造金属,进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。数据记录器:45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。带有波形调整功能的实时A扫描:用户使用这个可选实时A扫描模式,可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形(或称A扫描),核查厚度测量读数,对增益和空白设置进行手动调整,以在具有挑战性的应用中增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、回波空白、范围及延迟参数。
深圳市埃科瑞仪器设备有限公司是一家集研发、设计、制造为一体的仪器设备公司,致力于为广大客户实现产品价值和服务价值。公司拥有完整、科学的质量管理体系,依靠优良的销售团队和坚实的服务团队,获得了众多优良客户的信赖和支持,是实验仪器行业的先锋。公司成立至今已拥有众多国内外品牌厂商的支持,品牌包括:美国奥豪斯,德国赛多利斯,梅特勒托利多,日本岛津,美国康州,日本三丰,日本AND,美国博勒飞,梅特勒-托利多,日本得乐,日本理音,日本马康,美国GE,德国KK,日本奥林巴斯等等。
公司产品广泛应用于钢铁冶金、有色金属、石油化工、机械制造、能源电力、铁路运输、食品卫生、环境保护以及教学科研等各个领域。公司以“真挚的服务、低廉的价格”为宗旨,为国内外广大用户提供了周到的售前、售中、售后服务。赢得了国内外客户的*好评,更为我们业务的快速发展奠定了一定的基础。
公司主营仪器设备:
电子分析天平、电子密度天平、粘度计 、水分计、硬度计、浓度计、PH计、水质检测仪、涂层测厚仪、电火花检漏仪、表面粗糙度测试仪、白度计,糖度计、熔体流动速率测试仪,熔融指数仪、含油率萃取器、量具量仪、光学仪器、实验仪器、物理仪器、分析仪器、化工仪器、无损检测等.
实验室分析仪器:电子分析天平,电子密度天平,台式粘度计、便携式粘度计,固体密度计/比重计,液体密度计/浓度计,硬度计,显微镜,分光光度计,PH计,浊度计,水分计,千分尺,卡尺,含油率萃取器,振实密度仪,松装密度计,霍尔流速计,粉末流动速率仪各种电子分析天平等等实验室分析仪器。
无损检测仪系列:涂层测厚仪,超声波测厚仪,超声波探伤仪,光泽仪,白度计,色差仪,电火花检漏仪,粗糙度测试仪,等无损检测仪器。