一、用途
用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、老化试验箱 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

    二、结构特点:
产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究。
设备分为高温室、低温室、测试室三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用老化试验箱冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。
采用触控式液晶LCD显示人机介面控制器，的计测装置, 操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。
具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59zui大分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，zui大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。
箱体左侧具?50mm之测试孔1个，可供外加电源负载配线测试部件。
可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温老化试验箱的功能。