涂层测厚仪-电子/半导体检测仪器
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涂层测厚仪-电子/半导体检测仪器

CM-8829H涂层测厚仪-电子/半导体检测仪器

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-06-01 13:41:02
1646
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产地:国产;加工定制:否;
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广州兰泰仪器有限公司

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产品简介

规格型号: CM-8829H
涂层测厚仪是一种便携式测厚仪,能快速、无损伤、精密地测量涂层、镀层的厚度;可用于工程现场,也可用于实验室,通过不同探头的使用,更可满足多种测量需求;广泛应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业*的仪器。

详细介绍

 涂层测厚仪产品特点

* 测量导体上的非导磁涂层。
* 具有单次和连续两种测量方式可选。
* 公/英制单位转换。
* 具有手动关机、自动关机和欠压提示等功能。
* 自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质。
* 操作过程中有蜂鸣器提示音, 连续测量时蜂鸣器不发声。
* 采用RS-232数据线输出,与PC连接。
* 提供蓝牙 Bluetooth 数据输出选择。

 测量方法:

测量方法应用范围应用例子
F型,磁感应法(配铁基)测量导磁材料上非导磁覆盖层的厚度。电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量,也可用于船体油漆及水下结构件附着物的测厚。

 涂层测厚仪技术规格

测量范围0~12mm/0~480mil
分辨率0.01mm/0.1mm
准确率±1~3%n或±0.2mm
小曲面凸20mm/凹50mm
小测量面积16mm
薄基底0.3mm
公制/英制转换
低电压提示
自动关机功能
工作环境温度:0~40ºC           湿度:10~90%RH
电源4节 7号电池
尺寸126x65x27mm
重量210g(不含电池)


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