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DBC-320高精度新型高温反偏试验台-电子/半导体检测仪器
DBC-320测试台是专为IGBT模块进行高温反偏试验而进行设计,是IGBT出厂检测的重要设备。该试验台可对相应的IGBT器件进行适配器匹配，同时对48只器件进行试验。测试标准符合MIL-STD-750，IEC 60747。本设备采用计算机自动控制系统，后台软件实时监控、自动处理目标数据，具有测试精度高、操作方便、高效等优点。 参考价面议 -
EN-GWZD株洲所高温模块阻断试验台-电子/半导体检测仪器
该系统符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC标准试验要求。可供半导体器件配以适当的温度可控装置， 作交流阻断（或反偏）耐久性/ 筛选试验。能满足IGBT进行高温反 偏耐久性试验、高温漏电流测试（HTIR）和老炼筛选。 参考价面议 -
ENG1220厂商直供IGBT功率循环测试系统-电子/半导体检测仪器
易恩电气ENG1220 IGBT功率循环测试系统测试方法符合GB/T29332-2012/IEC 60747-9:2007及GB4023-83等相关标准。
IGBT功率循环测试设备，是IGBT测试的重要检测设备，该设备具有如下特点：
该测试系统是一套动态综合的测试系统，测试参数多，设备测试数据精度高。
该测试系统是一套大电流测试设备，设备的电气性能要求高。
该测试系统具有过流、过热、水压不足等保护 参考价面议 -
ENL3010研究所大功率浪涌测试仪-电子/半导体检测仪器
西安易恩电气 ENL3010 浪涌测试系统 ，该测试台通过电容充放电原理产生电流波形，根据不同的测试条件，设定好各试验参数，再通过调节不同的电感值（手动调节）来改变不同的电流宽度来输出测试要求的电流值，测试的电压和电流波形同时被采集到示波器和相关的控制电路，反馈给PLC,并由HMI显示测试结果； 参考价面议 -
ENX2020厂商直供高精度新型雪崩耐量测试仪-电子/半导体检测仪器
ENX2020雪崩耐量测试仪是本公司研发设计的测试IGBT、MOSFET、二极管雪崩耐量的专业测试设备，能够准确快速的测试出IGBT、MOSFET、、二极管的雪崩耐量。
西安易恩电气ENX2020 雪崩耐量测试系统，该设备包括：可控直流电源、可选电感、电流传感器、电压传感器、雪崩保护电压、IGBT、MOSFET、二极管等功率型器件、IGBT、MOSFET、二极管功率型器件保护电路、计算机控制系统 参考价面议 -
EN-2020AITC57300动态测试仪替代品IGBT测试-电子/半导体检测仪器
IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件，其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。
EN-2020A半导体器件动态参数测试系统，该系统是针对IGBT器件的开关性特性及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统，适用于电流不超过1500A和集电极电压 参考价面议 -
EN-3020C莱姆IGBT全自动测试系统替代品IGBT测试仪-电子/半导体检测仪器
针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统
大功率（IV可扩展至4500A，6000V）
自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作）
计算机记录测试结果，测试结果可转化文本或EXECL格式存储
采用品牌工控机，具有抗电磁*力强，排风量大等特点
测试方法灵活（可*测试器件以及单个和多单元的模块测试）
安全稳定（PLC对设备的工作状态进行全程实时监测并与硬件进行互锁） 参考价面议 -
EN-2005C安捷伦B1505替代品易恩曲线图示仪如何-电子/半导体检测仪器
西安易恩电气 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可 参考价面议 -
EN-2005B美国ST5300HX替代品易恩半导体测试仪-电子/半导体检测仪器
西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。
面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱离主控计算机独立 参考价面议