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Astek PCIE Gen4 HBA卡
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MIPI C/D-PHY Sensor/Camera图像攫取模组测试解决方案
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32-Bay SAS/SATA盘资料抹除仪
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MIPI C/D-PHY点屏测试解决方案
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MIPI D-PHY/C-PHY DSI/CSI总线协议分析仪
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Storage Workload性能测试分析系统
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MIPI D-PHY/C-PHY码型产生器
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ARRIS E600聚合边缘路由器测试系统
面议Introspect公司所推出的for Serdes芯片测试的高速多通道Tx/Rx误码测试仪，支持多通道抖动注入测试/眼图量测/误码测试等功能。
Serdes测试仪支持各种PRBS及客户自定义的PRBS的码型测试，根据不同的速率（4Gbps，8Gbps, 14.1Gbps, 32Gbps, 56Gbps）及通道数(8通道，32通道)，提供多种不同的型号系列可供客户选择，
32 lane Tx, 32 Lane Rx
Per Lane Jitter Injection
Per Lane Noise Injection
Per Lane Skew Control
Per Lane Voltage Control
Pre Lane Clock Recovery
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