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CrystaLaser紧凑固体激光器CL
￥80000
200W高功率皮秒激光器AMPHOS3000
￥100000
100W高功率飞秒激光器AMPHOS2000
￥100000
紧凑型光纤种子皮秒激光器LightWire FPS
￥50000
磁光克尔效应磁滞回线测量仪
￥19000
磁光克尔综合测试平台Kerr Microscope
￥30000
一体式高功率飞秒激光器
￥50000
AEROPULSE FS60工业级高功率飞秒激光器
￥10000
INO近红外InGaAs相机
￥100000
INO中远红外高光谱仪-实验室成套设备
￥100000
高功率光纤激光器反射镜FBG光纤布拉格光栅
￥4500
TERAXION啁啾光纤布拉格光栅
￥6000非接触式硅片厚度测量仪 光学仪器
非接触式硅片厚度测量仪SIT-200由精确可调激光光源，聚焦传感器，光学接收器组成。波长扫描光聚焦照射到目标上，由目标表面和背面反射光干涉形成干涉图案，经过聚焦传感器后由光学探测器进行检测。
SIT-200产品特点：
全光学，非接触硅片厚度测试
高动态范围测量粗糙表面
湿法刻蚀过程中实时测量
高灵敏度 高精度 快速测量 远程控制
产品参数：
测量目标 | 硅片 |
测量厚度 | 10-500μm |
光源 | 1515-1585nm扫描 |
功率 | 0.6mw，Class1 |
指示光源 | 红光，Class1M |
测量时间 | 20ms |
重复性 | 0.1μm |
输出监控 | 干扰信号（电学） |
PC接口 | 网口 |
供电 | 100-240V，50/60Hz |
尺寸 | 364 x 147 x 391mm |
重量 | 9kg |
非接触式硅片厚度测量仪SIT-200
