特性：
1）基本精度为0.1%;
2）测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz;
3）量程为20mV~1Vrms，以5mVrms步进;
4）具有测试信号电平监视功能;
5）高速测量：25ms;
6）高速接触检查;
7）大的电容测试量程;
8）变压器参数测量（供选用）;
技术指标：测量功能测量参数|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR选件001增加DCR（直流电阻），N（匝数比）和M（互感）测量测量电路形式串联和并联数学功能偏差和百分偏差测试电缆长度0m,1m,2m,4m,(频率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(频率=10kHz/20kHz);0m,1m(频率=100kHz)测试信号数据测试频率100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz选件002增加20kHz测试频率频率精度±0.01%（频率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)输出阻抗100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
交流测试信号电平20mV~1Vrms,以5mVrms分档精度±（10%+10mV)内部直流偏置电平1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
外部直流偏置0~+2.5V测量范围 参数
测量范围 |Z|,R,X1mΩ-100MΩ |Y|,G,B10nS-1000S C 1pF-1F L10nH-100kH D0.0001-9.9999 Q0.1-9999.9 θ-180°~+180° DCR1mΩ-100MΩ N0.9-200（待定） L,M1μH-100H（待定） Δ%-999.99%-+999.99% 测量精度：±0.1%(基本精度）（适用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) 测量时间 模式时间（典型值） 短25ms 中等65ms 长 500ms测试信号电平监视器电压和电流前端保护当充电电容器连接到输入端时内部电路便函起保护作用。电容器电压为；在
Vmax≤250V时，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V时，Vmax=√(2/C)(典型值），C单位为F。显示数字3，4或5位（可选择）修正功能开路/短路误差为0消除由测量夹具中杂散寄生阻抗引起的测量误差负载利用一个已校器件作为参考来改善测量的精度比较功能对每个一次测量参数和二次测量参数给出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比较结果接触检查功能可以检测测试夹具与器件之间的接触故障。接触检查的附加时间为5ms
特性：
1）基本精度为0.1%;
2）测试频率为100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz;
3）量程为20mV~1Vrms，以5mVrms步进;
4）具有测试信号电平监视功能;
5）高速测量：25ms;
6）高速接触检查;
7）大的电容测试量程;
8）变压器参数测量（供选用）;
技术指标：测量功能测量参数|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR选件001增加DCR（直流电阻），N（匝数比）和M（互感）测量测量电路形式串联和并联数学功能偏差和百分偏差测试电缆长度0m,1m,2m,4m,(频率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(频率=10kHz/20kHz);0m,1m(频率=100kHz)测试信号数据测试频率100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz选件002增加20kHz测试频率频率精度±0.01%（频率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)输出阻抗100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
交流测试信号电平20mV~1Vrms,以5mVrms分档精度±（10%+10mV)内部直流偏置电平1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
外部直流偏置0~+2.5V测量范围 参数
测量范围 |Z|,R,X1mΩ-100MΩ |Y|,G,B10nS-1000S C 1pF-1F L10nH-100kH D0.0001-9.9999 Q0.1-9999.9 θ-180°~+180° DCR1mΩ-100MΩ N0.9-200（待定） L,M1μH-100H（待定） Δ%-999.99%-+999.99% 测量精度：±0.1%(基本精度）（适用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL) 测量时间 模式时间（典型值） 短25ms 中等65ms 长 500ms测试信号电平监视器电压和电流前端保护当充电电容器连接到输入端时内部电路便函起保护作用。电容器电压为；在
Vmax≤250V时，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V时，Vmax=√(2/C)(典型值），C单位为F。显示数字3，4或5位（可选择）修正功能开路/短路误差为0消除由测量夹具中杂散寄生阻抗引起的测量误差负载利用一个已校器件作为参考来改善测量的精度比较功能对每个一次测量参数和二次测量参数给出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比较结果接触检查功能可以检测测试夹具与器件之间的接触故障。接触检查的附加时间为5ms
