噪声是包括电源在内的测试系统中多余却无法避免的问题。一部分的噪声总是由电源（除了电池是低噪声的电源）产生或传播的。然而外部噪声对电源的输出品质有着较大的影响。所以，电源噪声需要足够低，以免干扰相邻设备或测试结果。

这期介绍如何减轻测试系统中的电源噪声。在之前的两期介绍了一下DC/DC转换器测试系统与测量系统中的电源噪声。这期介绍一下射频放大器测试系统中的电源噪声。

射频放大器测试系统中的电源噪声

下图1显示为噪声控制测试系统，DUT为射频放大器。来自射频信号发生器的射频信号由射频放大器进行放大。射频放大器的输出由频分析仪进行测量。射频放大器为小信号调谐放大器，可放大射频下的小信号。射频放大器的机箱位于GND电位。因此，由共膜噪声引起的外部磁通应该远离射频放大器测量。磁通量可在电源的输出周围产生，也可从机箱或电源线产生。

接下来就看看外部磁通量是如何影响射频放大器测量以及如何处理噪声的。

为何外部磁通量会影响到射频信号

下图2显示了射频信号发生器输出连接器通过同轴电缆连接至射频放大器输入端口。在该系统中，接地回路显示明显，所以如果由共膜噪声引起的外部磁通通过该回路，那么噪声电流（Iw）将会流经同轴电缆的外导体。因此产生了噪声电压（Vw）。Vw是通过射频放大器的输入端口被添加至射频信号发生器（RF SG）。射频同轴电缆在其中心导体处的总阻抗为100Ω。当外部磁通通过这个回路时，电流不会流经具有高阻抗的中心导体，所以噪声电流（Iw）只流经同轴电缆的外导体。这些不平衡的电流导致噪声电压加至了射频信号。

如何减少共膜噪声

上述的噪声问题是由接地回路所引起的。为了解决这个问题，可如下图3所示，通过放置一个隔离变压器来断开接地回路。

另一种解决方案就是将同轴电缆缠绕在环形铁芯上，从而阻止电流流过同轴电缆的外导体。

本文来源于KIKUSUI菊水

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