高速相位差测量仪RE-200

高速相位差测量仪RE-200

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具体成交价以合同协议为准
2023-04-29 07:56:38
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塔玛萨崎电子（苏州）有限公司

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产品简介

简单介绍： 高精度控制光轴！3σ≤0.02°用于低延迟测量

详细介绍

详情介绍：
特殊长度
  • 可以从0 nm开始进行低（残留）延迟测量
  • 可以与光轴检测同时进行延迟（Re。）的高速测量（
    可以在0.1秒或更短的时间内完成处理，这相当于世界上*快的速度）。
  • 由于没有驱动单元，因此可实现高重复性
  • 易于测量，只需设置很少的测量项目
  • 除了550 nm的测量波长外，我们还有各种波长的产品系列。
  • 可以进行Rth测量和全向测量
    （需要可选的自动旋转倾斜夹具）
  • 通过与拉伸测试仪结合使用，可以与薄膜的偏振特性同时评估光弹性
    （该系统是定制的）。

测量项目
  • 参考（ρ[°]，Re [nm]）
  • 主轴方位角（θ°）
  • 椭圆率（ε）/方位角（γ）
  • 三维折射率（NxNyNz）

测量目标
  • 相差膜，偏光膜，椭圆膜，视角改善膜，各种功能膜
  • 透明和各向异性的物质，例如树脂和玻璃（玻璃中的应变，变形等）

  • 产品信息
  • 原则
  • 规格
  • 测量例
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