1  测量原理
1.1  测量原理
高频率的的微波脉冲沿着一根缆、棒或包含一根棒的同
轴套管运行，接触到被测介质后，微波脉冲被反射回来，
被电子部件接收，并分析计算其运行时间。
微处理器识别物位回波，分析计算后将它转换成物位信
号给出。
由于测量原理简单，VEGAFLEX 可以不带料调整，从
而节省了大量调试费用。测量缆或棒可以截短，使之更
加适应现场的应用。
1.2  测量 特点
不受粉尘得影响
粉尘强烈不会对测量造成影响。
不受噪音的影响
VEGAFLEX 不受入料噪音的影响。
对于蒸汽不敏感
即使在烟雾、噪音、蒸汽很强烈的情况下，测量精度也
不受到影响。
不受介质特性变化的影响
被测介质的密度变化或介电常数的变化不会影响测量
精度。
粘附：没有问题
在测量探头或容器壁上粘附介质不会影响测量结果。
应用范围广
测量范围
-  棒式：可达 6 米（由于运输原因可达 4 米，如果需
要，可选多节棒式电极）
-  缆式：可达 75 米
-  同轴管式可达 6 米（由于运输原因可达 4 米）
过程温度和过程压力范围广泛，见“技术参数”一章。
界面测量
VEGAFLEX81, 83, 86 都可以提供用于测量液体界面的
类型，其应用区别取决于被测介质的化学特性和测量条
件的要求，详见“技术参数”一章。
界面测量的前提条件
高频的微波脉冲沿着测量缆或测量棒向下运行。在接触
到介质表面的时候，一部分微波脉冲被反射回来。另一
部分微波脉冲则穿透上一层液体介质，到达两种液体介

质的界面后被反射回来。这两次被反射回来的微波脉冲
的运行时间均被进一步分析处理。
界面测量
1  基准面
d1  到界面的举例（ HART －数值 1 或初始值）
d2  到上一层介质表面的举例（ HART- 数值 3 或第 3 个数值）
TS  上一层介质的厚度（ d1-d2 ）
h1  高度 － 到界面
h2  高度 － 到上一层介质表层
L1  下一层介质
L2  上一层介质
L3  气层
上一层介质（L2）：
• 可以为不导电介质
• 必须知道上一层介质的介电常数（需要输入）。小
介电常数：棒式：1.6
• 上一层介质组成成分必须稳定 – 介质不能更换，混
合比例不能改变
• 上一层介质必须是同质的 – 内部没有分层
• 上一层介质的厚度至少 50mm
• 与下一层介质的分层要明显 – 没有乳化层，没有腐
化层
• 在上一层上面尽量不要有泡沫
下一层介质（L1）：
• 介电常数比上一层的至少大 10，是导电的。比如：
上一层介质的介电常数是 2，下一层的介电常数小
是 12。
气层（L3）
• 空气和其他气体的混合
• 气层 – 根据应用，不是总是存在（d2=0）