抗干扰局部放电检测仪可以用窗宽和窗位置将干信号扰拒之窗外，即合扰窗开关，用一个或两个时间窗并用窗宽、窗位置来改变椭圆上加亮区域的宽度与位置，使其避开干扰脉冲，这样，放电量表的指示值只表示放电脉冲的大小，而不表示干扰信号的值，另外也可以改变频带的方法来提高抗*力。

抗干扰局部放电检测仪

试验操作

接通高压试验回路的电源，逐步升高电压至规定电压，时刻注视PC表指示，此时放电量表的读数表示试品放电量的大小，如指示在80%，则表示试品视在放电量为50×80%＝40PC。

若此时试品放电量刚大于即超过满度，应立即将放大器增益粗调由原来的“3”切换到“2”档，此时放电量表，则表示500PC，假如此时放电量指示80%，由试品放电量为500×80%＝400PC。

外来干扰

1．与电源电压无关的干扰

这种干扰与电源电压（加至被试品上的电压）无关，它不随电源电压的升高或降低而变化。它产生于：电气开关的开闭操作、电焊起弧、吊车开动、整流电机的电刷、闪光灯、无线电电磁波以及各种工业干扰等等。这些干扰通过电源、测试回路和地线等途径侵入进来。

抗干扰局部放电检测仪

成套装置

1. 输入阻抗

1~12号任选，7R号测长电缆用。

2. 视在放电量器校准器（JZF－10校正电量发生器，局放仪校正脉冲发生器）任选。

3. LB系列工频、中频滤波器

4. SBP系列三倍频感应试验设备

5. 无局放电阻分压器50KV、100KV、150KV、200KV任选。

6. 无局放耦合电容系列

7. YDTW无局放试验变压器系列

8. 工频试验控制台

抗干扰局部放电检测仪

可控硅元件

干扰讯号波形见图6，特点：干扰讯号在时基椭圆上之位置固定，每一元件产生一个独立的高频脉冲讯号。电路接通，电磁耦合效应增强时，讯号幅值增加，也可能发生波形展宽、相移，从而在时基上占位增加。

起因：供电网络中有可控硅器件在运行。干扰的大小同所用可控硅器件的功率直接有关。

异步电机

干扰波形见图7。特点：在时基椭圆上正负半周波形出现对称的二组讯号，且沿扫描时基逆时针方向移动。

起因：异步电机运行时产生的干扰讯号耦合到检测回路中来。