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LW300MT硅芯片检查显微镜技术参数
放大倍数 | 数值孔径 | 工作距离(mm) | 备注 |
5X | 0.12 | 9.70 | |
10X | 0.25 | 3.73 | |
20X | 0.40 | 7.23 | |
40X | 0.60 | 3.04 |
放大倍数 | 数值孔径 | 工作距离(mm) | 备注 |
5X | 0.12 | 9.70 | |
10X | 0.25 | 3.73 | |
20X | 0.40 | 7.23 | |
40X | 0.60 | 3.04 |