硅芯片检查显微镜

LW500E硅芯片检查显微镜

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 14:54:13
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上海测维光电技术有限公司

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产品简介

用途:广泛的应用于透明,半透明或不透明物质。大于3 微米小于20微米观察目标,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。

详细介绍

技术参数:
1、三目镜:转轴式,倾斜30°包括检偏振片
2、大视野:WF10X( 18mm)
3、平场分划:10X(0.10mm/格值)
4、平场物镜:PL5X,PL10X,PL20X,PL40X,PL80X
5、载物台尺寸:274*274mm 有快速移动装置
6、移动范围尺寸:200 * 200mm
7、转换器:五孔 滚珠内定位内弯
8、照明系统:落射照明 6V/20W、卤素灯、亮度可调带起偏振片落射照明
选配件:300万像素数字彩色摄像头,47万像素彩色摄像头,采集卡,测量软件,分析软件,数码相机等
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