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F20薄膜厚度测量仪

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产品简介

FILMETRICS利用反射式光谱测量技术,通过对薄膜上表面和下表面的反射光进行光谱分析，几秒内即可测出透明薄膜的厚度（zui多四层）、光学参数（n和k）及粗糙度。

薄膜厚度测量范围： 3nm～450um，精度为0.1nm。光源及探测器的波长从紫外220nm至近红外1700nm。

产品特性：

1、操作简单、使用方便；

2、测量快速、准确；

3、体积小、重量轻；

4、价格便宜；

产品应用：

1、半导体行业:光刻胶、氧化物、氮化物；

2、LCD行业:液晶盒间隙厚度、ITO、Polyimides；

3、光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片；

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