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CMI900菲希尔测定膜厚测试仪-膜厚计

具体成交价以合同协议为准

2016-12-13深圳市
型号
深圳市鼎极天电子有限公司

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膜厚仪,镀层测厚仪,膜厚测试仪,X射线测厚仪,镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪
产品简介
CMI900菲希尔测定膜厚测试仪探头描述:采用优质合金钢金属小探头,具有高强度、高韧性、耐磨、耐腐蚀、耐低温、耐高温、无磁性等特殊性能,小探头直径仅是10mm,可以测量平面,管材,等小面积物体,重要性稳定是涂层测厚仪的首要选择条件; 外观描述:外观精美,精致,结构紧密,牢固,主机具软橡皮胶线连着小金属探头,大液晶显示屏幕,背光效果;
详细信息

CMI900菲希尔测定膜厚测试仪优势:

杰出的*稳定性: 

·自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果

·简单快速的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正

坚固耐用的设计

·可以在实验室或生产线上操作

·坚固的工业设计 

·经行业验证的技术,在销售量超过3000台

有效调整生产过程,从而提高生产力

·确保元件可靠性

·优化质量控制,从而确保产品生命周期

·测量焊料合金成份和镀层厚度

·分析导电性镀层金和钯的厚度

·测量电脑硬盘上的NiP层厚度

电镀处理的成本zui小化,产量zui大化

·快速简单的分析

·同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析

·zui多可分析4层(不包括基层)

·镀液成份分析

珠宝及其他合金的快速无损分析

·贵金属合金分析

·黄金纯度分析

·材料鉴定

CMI900菲希尔测定膜厚测试仪功能技术参数:

  测试模式:仪器默认为连续(CONT INUE)测量模式,因为连续测试更能减少手误操作误差,这性能技术高于一般同行的涂层测厚仪水平,一般的涂层测厚仪只有单次测试模式,东儒DR系列测厚仪都可以调节连续测试和单次(SINGLE)测量方式。

 统计功能:一般涂层测厚仪需要手工操作记录数据,然后计算平均值等,东儒涂层测厚仪设置了自动求取zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)四个统计功能,更便捷,简单,方便。

 存储功能:这是区别于一般涂层测厚仪的分界线,DR260/270/280测厚仪可存贮800多个测量数据,连接电脑导出数据*保存,打印存档,留住辉煌成就,更具*性。

 测量范围:0-1250/3000μm(超过1250μm要提前告知厂家另行定制)

 使用环境:温度:0℃-50℃,湿度:20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用

 分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm)

 zui薄基体:0.4mm

 测量精度:±(1%-3%) 1.5μm

 外形尺寸:130mm*70mm*24mm

 电源:三节(7号)碱性电池

 重量:100g

 特点:小体积,重量轻,便携,现场测量,可以用于实验室内,电子数显,大液晶显示屏,背光,连续测试,统计功能等。

CMI900菲希尔测定膜厚测试仪使用方法:

  仪器装上电池后,按下“ON/OFF”按键开机,等蜂鸣声响后,液晶显示屏上显示"0"时,仪器自动进入测量状态,直接将测头垂直并快速紧压到工件表面的涂镀层上,仪器通过测头自动测量出涂层厚度,并通过显示屏把厚度值显示出来(注意:测量时注意测头保持垂直)

  全国联保,一年保修,终生维护,七天包换,损耗材价格实惠。

 

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