inTEST-Temptronic thermostream 高低温测试机应用于半导体芯片温度测试

上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高低温测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用，进行半导体芯片高低温测试。半导体芯片温度测试主要是做芯片的温度冲击和温度循环测试。
上海伯东客户某半导体厂商选用 inTEST-Temptronic thermostream ATS-710-M 高速温度测试机，

inTEST-Temptronic  ATS-710-M 提供循环测试温度：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升温/降温 18 °C，成功完成芯片的高低温循环测试，疲劳失效测试。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务。
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode，温度显示精度：±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准) ，不需要液态氮气 (N2) 或液态二氧化碳 (CO2)冷却。
鉴于信息保密，更详细的 Temptronic thermostream 半导体芯片温度测试应用案例，欢迎：


上海伯东客户现场图片：

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出*的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责  inTEST 新品销售和售后维修服务。
 

上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备;美国 Brooks Polycold 冷冻机;美国 KRI 考夫曼离子源;美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机;日本 NS 离子蚀刻机等。

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