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日本分光计器 TOF载流子迁移率测试仪-光栅光谱仪

具体成交价以合同协议为准

2017-04-25上海市
型号
日本分光计器
上海沃隽电子科技有限公司

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产品简介
TOF载流子迁移率测试仪能够测试有机半导体和有机薄膜的载流子迁移率,当然我们的载流子迁移率不仅可以用TOF法则测试载流子迁移率,还能用FET法则测试载流子迁移率。
详细信息

日本分光TOF载流子迁移率测试仪


描述 
TOF载流子迁移率测试仪CMM-250是测量薄膜电子和空穴的迁移率的有效评价系统,主要用于EL元件和太阳能电池等测试。

我们有防噪声系统和*的信号处理,明显降低了噪声,响应速度快,如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。可更换不同的模具(作为一个选项)模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600P秒荧光.

我们的除了TOF法测测量,也可选FET方法测量。

特点

1、在纳米秒的时间分辨率?以10-7-10-1cm2 / V·秒速度移动

  (这可能改变取决于样品的厚度)。

2、有简单操作和探针样品室

3、新设计的光学系统和数据处理,能够获得高信噪比的资料

规格

光源:氮激发光模激光器

氮激光脉冲宽度:600psec

氮激光输出:250KW@10Hz

输出波长:337.1nm

模具的激光脉冲宽度:400psec(在480nm)

分辨率:测量时间小于10纳秒

测量流动范围:10-7 ~ 10-1cm2 / V.秒

(流动性不能在这个范围内测量)

偏置电压:0~±500V

负载电阻:50Ω~100KΩ 5steps

360~720nm(模具可选)

轴的时间分辨率:8位(平均11位)

同步:光电二极管激励光监测系统

 

个人电脑

激光控制:激光开/关

数据采集:次把握~ 256枪

数据分析:数据显示并保存

Y和X轴对数转换

迁移时间和迁移率的计算

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