恒温恒湿试验箱,PCT高压加速老化试验箱,振动试验台,冷热冲击试验箱,高低温湿热交变试验箱,老化试验箱,军用三综合振动,氙灯老化试验机,hast非饱合试验机,高低温低气压试验箱
艾思荔模拟仿真测试设备是以环境试验设备的研发、生产、销售的高科技企业。
公司拥有雄厚的技术实力、*的生产设备、丰富的制造经验、强大的系统设计及工程安装能力、高素质的经营管理团队及优秀完善的售后服务队伍。经过多年发展,凭借敬业创新的进取精神、优质完善的售后服务、严谨求实的工作作风,以满足国内外客户在汽车、太阳能光伏组件、钕铁硼、线路板、半导体、LED、汽车部件、大专院校、航空、航天、军事、造船、电工、电子、医疗等领域等各类产品开发、质量控制和科学研究等各方面的需求。公司产品自动化程度高,使用效率高,高精确度、高复现性和高可靠性等特点,在环境试验领域和测试领域具有一定的度。
公司严格执行质量管理体系和环境管理体系,并全面贯彻执行其质量要求,在产品的研发、设计、制造、质量控制及服务协调方面始终保持高效运作,所提供的产品技术*,质量可靠,品种齐全,主要产品:氙灯老化试验箱、耐气候试验箱、UV紫外线老化实验机、耐沙尘试验箱、防尘试验机、淋雨试验箱、风冷式耐气候试验箱、冷热冲击试验箱,高低温交变湿热试验箱、三箱式高低温冲击试验箱、高低温试验箱、高温试验箱、高低温湿热试验箱、快速温变试验箱、恒温恒湿试验箱、步入式高低温(交变湿热)试验室、老化试验室、高低温冲击试验箱、温(湿)度振动综合试验箱、淋雨试验箱(房)、砂尘试验箱(房)、(复合)盐雾腐蚀试验箱(房)、振动试验台、PCT加速老化寿命试验箱、高低温低气压试验室、加速度冲击试验台(高低温、温循、温冲、低气压、振动、冲击、碰撞等)各种环境试验设备及相关产品。产品满足GB、GJB等相关国标、要求,也适用IEC和MIL等有关标准。
公司秉承“品质带来价值”的经营理念,以“科学可靠的设计、精益求精的制造;及时有效的服务、力争*的追求”作为行动标准,完善管理机构,加强市场推广力度,不断开拓新市场,逐步提高产品的品质和完善的售后服务,为客户提供一站式的便捷服务,让用户用得放心。
欢迎新老顾客来电咨询、订购。艾思荔人与您携手共创辉煌。
持续改进用户满意
【规范管理】是制约实验室日常工作、学习和生活的行为标准和方法。
【信誉*】是实验室对外交往及服务工作的道德规范。
【科学公正】是实验室处理试验和技术咨询服务工作和行政管理工作的基本原则。
【持续改进】是实验室保持正常有效运行,精益求精,与时俱进,不断完善和发展的保证。
【客户满意】是以客户为关注焦点,也是实验室一切工作的出发点和归宿。
我们的使命
我们以满足客户在环试产品方面不断增长的需求为己任。
我们将研发、生产和销售高品质的环试产品。
我们将向客户提供优质高效的服务。
我们将创造一个高品位、充满活力及不断创新的品牌。
我们将努力成为行业的*。
我们的员工观
优秀员工是艾思荔科技的宝贵财富。
我们吸引、鼓励、任用各方面的优秀人才,以工作激情、责任感和效率作为评估标准,并且机会均等;
我们要求员工做到诚实、正直、礼貌周到、开诚布公、相互支持、追求Z高水准的表现;
我们聘用高水平的、脚踏实地的、追求*的人才;
我们要发掘和培养那些尽力让公司进步的职员。
我们的价值观
客户是艾思荔科技生存和发展的源泉。
我们承诺以诚相待,提供*秀的服务;
我们寻求理性的客户作为合作伙伴;
我们以合作伙伴的发展壮大为荣;我们以合作伙伴的满意作为我们的Z高追求。
艾思荔科技愿景
技术*行业瞩目用户称道员工自豪
产品简介
IC半导体冷热冲击试验仪冷冻及风路循环系统
☆集成电路板高低温试验箱制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。
☆风路循环出风回风设计,风压风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。
☆升温、降温、系统*独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。
详细信息
IC半导体冷热冲击试验仪冷冻及风路循环系统
☆集成电路板高低温试验箱制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。
☆风路循环出风回风设计,风压风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。
☆升温、降温、系统*独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。
☆冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。
☆采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。
IC半导体冷热冲击试验仪 www.uvlhsyx.com 箱体结构特点
☆大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。
☆箱体左侧配直径50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。
☆集成电路板高低温试验箱箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。
☆箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。
IC半导体冷热冲击试验仪评审结论
☆对设计是否满足本设计阶段要求,能否转人下一设计(或生产)阶段作出结论;
☆对设计工作及水平作一次技术上的评价;
☆根据FMECA的情况,对存在的主要失效模式是否采取了有效措施提出意见等。后填写评审鉴定书。
设计评审过程中形成的资料是评价设计质量的重要凭证。要认真填写,并整理归档。
IC半导体冷热冲击试验仪设计质量分析报告内容至少包括:
☆设计依据、目标和达到的水平;
☆设计主要特点和改进;
☆本阶段可靠性分析、试验结果;
☆对主要问题和薄弱环节的分析及对策;
☆提交设计审查的设计、试验资料目录;
☆设计目标及核实达到的水平;
IC半导体冷热冲击试验仪控制器
☆资料及试验条件输入后,控制器具有锁定功能,避免人为触摸而改变温度值。
☆具有P.I.D自动演算的功能,可将温度变化条件立即修正,使温度控制更为精确稳定。
☆集成电路板高低温试验箱温度控制采用全进口触摸按键式仪表,操作设定简单。(日本RKC)
☆可选配打印机。
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