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IC半导体冷热冲击试验仪 集成电路板高低温循环机

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2021-03-26东莞市
型号
艾思荔模拟仿真测试设备

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产品简介
IC半导体冷热冲击试验仪冷冻及风路循环系统
  ☆集成电路板高低温试验箱制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。
  ☆风路循环出风回风设计,风压风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。
  ☆升温、降温、系统*独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。
详细信息

IC半导体冷热冲击试验仪冷冻及风路循环系统 
  ☆集成电路板高低温试验箱制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。 
  ☆风路循环出风回风设计,风压风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。 
  ☆升温、降温、系统*独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。 
  ☆冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。 
  ☆采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温度分布均匀。 
IC半导体冷热冲击试验仪 www.uvlhsyx.com 箱体结构特点 
  ☆大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。 
  ☆箱体左侧配直径50mm的测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。 
  ☆集成电路板高低温试验箱箱体采用数控机床加工成型,造型美观大方,并采用无反作用把手,操作简便。 
  ☆箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板,箱体外胆采用A3钢板喷塑,增加了外观质感和洁净度。 
IC半导体冷热冲击试验仪评审结论 
  ☆对设计是否满足本设计阶段要求,能否转人下一设计(或生产)阶段作出结论; 
  ☆对设计工作及水平作一次技术上的评价; 
  ☆根据FMECA的情况,对存在的主要失效模式是否采取了有效措施提出意见等。后填写评审鉴定书。 
  设计评审过程中形成的资料是评价设计质量的重要凭证。要认真填写,并整理归档。

 
IC半导体冷热冲击试验仪设计质量分析报告内容至少包括: 
  ☆设计依据、目标和达到的水平; 
  ☆设计主要特点和改进; 
  ☆本阶段可靠性分析、试验结果; 
  ☆对主要问题和薄弱环节的分析及对策; 
  ☆提交设计审查的设计、试验资料目录; 
  ☆设计目标及核实达到的水平; 
IC半导体冷热冲击试验仪控制器 
  ☆资料及试验条件输入后,控制器具有锁定功能,避免人为触摸而改变温度值。 
  ☆具有P.I.D自动演算的功能,可将温度变化条件立即修正,使温度控制更为精确稳定。 
  ☆集成电路板高低温试验箱温度控制采用全进口触摸按键式仪表,操作设定简单。(日本RKC) 
  ☆可选配打印机。 
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